Occasion RUDOLPH / AUGUST NSX 95 #293755120 à vendre en France

RUDOLPH/AUGUST NSX 95 masque & wafer inspection equipment est un système avancé, entièrement automatisé d'inspection des wafer. Il combine un microscope électronique à balayage haute résolution (SEM) avec un étage de plaquette robotique pour une inspection rapide et précise des plaquettes. AUGUST NSX-95 est conçu pour une inspection rapide et précise des tolérances de disposition les plus strictes des wafers jusqu'à 45nm technologie de processus. Il est capable de détecter des défauts dans la production de semi-conducteurs au niveau des sous-microns ultra-profonds (uDSM). RUDOLPH NSX 95 a une haute vitesse, haute résolution, couleur SEM avec une résolution maximale de 0.2nm et une taille d'image jusqu'à 1000x1000µm. Ceci fournit le plus grand agrandissement et le champ de vision nécessaire pour la mesure et la reconnaissance précises des défauts. Un étage de plaquette robotique et une option d'analyse intégrée des zones de filière permettent une évaluation rapide et non destructive des défauts de production et des plaquettes de référence. L'unité d'inspection des masques et plaquettes dispose également d'une machine d'éclairage LED haute résolution, qui permet de visualiser les échantillons côte à côte dans les mêmes conditions d'éclairage. Cette fonctionnalité est essentielle pour les techniques de codage des couleurs, y compris la reconnaissance des motifs. AUGUST NSX 95 est équipé d'un puissant outil de positionnement automatique des échantillons, permettant un positionnement précis et rapide des échantillons, ce qui réduit le temps de chargement des échantillons. RUDOLPH NSX 95 comprend plusieurs fonctionnalités avancées pour fournir aux utilisateurs la plus grande précision de reconnaissance des défauts. Ces caractéristiques comprennent un algorithme de reconnaissance des défauts (DRA), qui permet une reconnaissance rapide et fiable des défauts. Le DRA peut détecter à la fois la production en ligne et les défauts de référence. Il dispose également d'une option d'analyse automatisée des particules (AiPA) pour l'analyse rapide des particules, et d'une assignation automatisée des échantillons (ASA) qui permet à l'actif de sélectionner la bonne plaquette en fonction de l'entrée de l'utilisateur. Enfin, NSX 95 offre un transfert direct vers le modèle de processus backend et un stockage de données robuste, ainsi que des diagnostics à distance/dépannage via une connexion internet sécurisée. Cela permet une configuration facile et un transfert de données à grande vitesse pour des délais de traitement plus rapides. Dans l'ensemble, RUDOLPH NSX-95 est un équipement puissant et fiable d'inspection des masques et des plaquettes qui permet une inspection rapide et précise des défauts au niveau des plaquettes. Le microscope électronique à balayage rapide et l'étage de plaquette robotique permettent un positionnement rapide et précis des échantillons et une analyse d'image. Le système d'éclairage LED, l'algorithme de reconnaissance des défauts, l'analyse des particules et l'affectation automatisée des échantillons rendent l'unité efficace et fiable tout en fournissant la reconnaissance des défauts de la plus haute précision dans la production et le développement des processus.