Occasion RUDOLPH NSX 115 #9212440 à vendre en France

RUDOLPH NSX 115 est un masque haut de gamme et un équipement d'inspection de plaquettes de RUDOLPH, un leader dans les solutions optoélectroniques réfléchies. NSX 115 fournit des capacités d'inspection critiques pour une grande variété de matériaux et d'applications dans l'industrie des semi-conducteurs. Il utilise un système optique d'imagerie avancé pour détecter les différences subtiles dans les géométries ou les défauts de l'appareil jusqu'à 0.2um. RUDOLPH NSX 115 est composé de deux composantes principales : l'unité de traitement des inspections et le traitement cloud AccuVision, qui travaillent ensemble pour fournir des capacités complètes de détection et d'analyse des défauts. Le processeur d'inspection est une plate-forme matérielle intégrée qui comprend la caméra, l'outil de traitement des données et d'autres composants matériels qui soutiennent la tâche d'acquisition et de traitement des données. L'actif AccuVision Cloud Processing permet le traitement d'images en temps réel et l'extraction de fonctionnalités pour des besoins d'applications de haut niveau. NSX 115 est conçu pour des lignes de production haut de gamme, capable de scanner 100 % des plaquettes et des masques pour les défauts et les mesures de motifs rapidement et avec précision. Il dispose d'un outil de triangulation laser automatisé pour mesurer avec précision les dimensions critiques des pièces, tandis que ses algorithmes de haute fidélité effectuent une détection et une classification rapides et précises des défauts pour les surfaces de masque et de plaquette. La combinaison de vitesse et de précision du RUDOLPH NSX 115 est complétée par ses capacités d'analyse dynamique des données. Le modèle est capable de combiner plusieurs types d'inspection en une seule analyse, permettant aux clients fabricants de puces d'avoir une plus grande visibilité et un meilleur contrôle sur les processus de production. Les données recueillies à partir de l'analyse détaillée des défauts de l'équipement peuvent être intégrées dans des modules statistiques de contrôle des processus, ce qui simplifie efficacement le processus de détection des défauts et garantit que le processus de production est conforme aux normes du client et de l'industrie. En plus de ses capacités techniques, NSX 115 est également conçu avec la convivialité à l'esprit. Une interface utilisateur intuitive permet de former facilement les opérateurs et de s'assurer que le système produit des résultats cohérents avec un temps d'installation et d'étalonnage minimal. De plus, les capacités d'autosurveillance et de maintenance garantissent que l'unité reste en état de pointe et peut accomplir ses tâches avec un minimum de perturbations. Dans l'ensemble, RUDOLPH NSX 115 est un outil complet et fiable pour l'inspection et l'analyse des masques et des plaquettes dans l'industrie des semi-conducteurs. Il permet aux utilisateurs avec des capacités d'imagerie et d'analyse avancées qui garantissent la plus haute qualité et la plus grande précision pour toutes les lignes de production. Que ce soit pour vérifier les géométries, détecter les erreurs ou effectuer des inspections complexes, NSX 115 est une solution puissante et fiable.