Occasion RUDOLPH NSX 115D #9223806 à vendre en France

RUDOLPH NSX 115D est un puissant équipement d'inspection de masque et de plaquettes conçu pour la fabrication de semi-conducteurs. Il fournit une plate-forme complète pour l'assurance de la qualité à différentes étapes du processus de fabrication. Grâce à l'optique haute résolution, le système NSX 115D offre un contrôle de qualité au niveau de la plaquette ou du masque. Il détecte rapidement les défauts, tels que les motifs manquants, les bords en surplomb, les lignes brisées ou d'autres problèmes critiques. Un microscope électronique à balayage optionnel (SEM) offre en outre une capacité d'inspection descendante, permettant une vue plus détaillée des défauts éventuels. RUDOLPH NSX 115D offre également une classification avancée des défauts, permettant de regrouper des défauts similaires et d'analyser les mêmes. La machine est divisée en trois zones principales et comporte trois étages distincts. La première étape est axée sur le pré-balayage. On obtient ici des images des plaquettes pour un traitement ultérieur. Les outils 3D permettent l'imagerie à grande échelle pour un résultat beaucoup plus précis par rapport à un scanner 2D typique. Ces images de pré-balayage servent également de référence pour de nouvelles comparaisons. La deuxième étape est l'étape d'édition, au cours de laquelle les images sont éditées et ajustées pour une optimisation ultérieure. Au cours de cette étape, divers algorithmes sont utilisés pour détecter et reconnaître divers types de défauts tels que des grains, des rayures, des particules et des fissures. La troisième étape est le post-balayage. Après classification et analyse des défauts, les données sont stockées pour une utilisation ultérieure. Cette étape est destinée à détecter tout défaut latent potentiel et à s'assurer également qu'il n'y a pas eu de changement dans la plaquette ou le masque entre les étages. Dans l'ensemble, l'outil NSX 115D fournit une plate-forme complète pour le contrôle et l'analyse de la qualité des plaquettes et des masques. Doté d'une excellente optique, d'une classification avancée des défauts et d'un traitement 3D, l'actif est un choix idéal pour l'assurance qualité de fabrication de semi-conducteurs.