Occasion RUDOLPH NSX 115D #9232257 à vendre en France

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RUDOLPH NSX 115D
Vendu
ID: 9232257
Automatic defect inspection system Basler inspection camera included.
RUDOLPH NSX 115D masque et wafer inspection équipement est une machine très avancée pour la production de circuits intégrés (IC) qui contiennent des composants microélectroniques optiques. Avec son optique de précision, son capteur de plaquettes et ses opérations contrôlées par microprocesseur, NSX 115D offre une précision impeccable dans deux modes de contrôle. Grâce au premier mode, l'imagerie dynamique, ce système peut effectuer 15 000 évaluations par heure, en utilisant des images numériques avec des résolutions pouvant atteindre 5,0 microns. Le second mode, Mapping, permet à l'opérateur de calculer avec précision les dimensions, les angles et les tolérances d'un appareil. L'unité offre des performances et une polyvalence robustes qui sont essentielles pour vérifier les caractéristiques physiques des pièces complexes. RUDOLPH NSX 115D offre une large gamme de capacités d'inspection pour les applications au niveau des masques et des plaquettes. Cela permet aux utilisateurs d'analyser complètement les surfaces avant et arrière de leurs structures de dispositifs microélectroniques. Cet outil utilise des réglages de performance automatisés qui permettent la saisie rapide de données avec des images de masque et de plaquette. Les utilisateurs peuvent personnaliser leur analyse pour assurer la précision et capturer des images de haute qualité sur une grande zone. Les modes d'imagerie de l'actif peuvent détecter des défauts tels que des crevasses de puce, des microfailles IC, des points de défaut et des défauts externes. Ce modèle est capable de produire des données 3D sous une forme 2D et 3D. Pour l'inspection du masque à un seul côté, l'équipement saisit des détails beaucoup plus fins que d'autres systèmes d'inspection du masque, tels que les trous d'air, les impuretés et les défauts. En fournissant des résultats précis et fiables, le masque NSX 115D et le système d'inspection des plaquettes ont considérablement augmenté le rendement de production des composants semi-conducteurs. Sa stabilité unitaire et sa précision lui ont permis d'être utilisé dans les processus de production les plus complexes, d'augmenter la qualité des produits et d'assurer une grande fiabilité.
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