Occasion RUDOLPH NSX 115D #9260018 à vendre en France

RUDOLPH NSX 115D est un équipement de pointe d'inspection des masques et des plaquettes conçu pour identifier la contamination, les défauts de surface et d'autres irrégularités lors des processus de fabrication des semi-conducteurs. Ce système, qui offre les meilleures performances automatisées, dispose d'une source lumineuse avec une lampe 4.7kW Xenon, une optique programmable et une unité d'imagerie avec des capteurs CMOS haute résolution. Avec un champ de vision total pouvant atteindre 1K x 2K pixels, la machine peut inspecter masque et plaquettes pour des fonctionnalités aussi petites que 5 μ m. NSX 115D est doté de la technologie brevetée de traitement d'image SSR (Sub-Pixel Response), qui permet de détecter les défauts des plaquettes et des masques à 100 % pixel. Il utilise un outil de métrologie basé sur l'image pour identifier et mesurer rapidement les caractéristiques et les défauts avec seulement quelques minutes de temps. L'actif est également équipé de divers logiciels, dont WaferMask, un outil d'inspection du masque/réticule ; WaferMarker, un outil automatisé d'inspection des plaquettes ; et WaferMapper, un outil de cartographie/focus. Toutes ces applications sont accessibles via une interface utilisateur graphique intuitive (interface graphique). De plus, RUDOLPH NSX 115D prend en charge une variété de formats de sortie de données tels que TIF, BMP, JPG et PDF. Il dispose également d'un lecteur d'identification OCR (reconnaissance optique de caractères) optionnel, qui peut reconnaître divers types de texte et de symboles sur une plaquette ou un masque. Le modèle est également livré avec un ensemble complet de support matériel comprenant une table d'éclairage réglable, wand vide, balayage et chargement automatisé de plaquettes, et plusieurs positions de caméra. NSX 115D est l'outil parfait pour la détection automatisée des caractéristiques et des défauts des masques et des plaquettes. Avec son logiciel et son matériel complets, il offre les meilleures performances et la fiabilité. Grâce à sa diversité de formats de données, il est facile à intégrer dans tout procédé de fabrication de semi-conducteurs. Cela fait de RUDOLPH NSX 115D le choix idéal pour tout processus semi-conducteur nécessitant une inspection et un diagnostic automatisés du masque et de l'inspection des plaquettes.