Occasion RUDOLPH NSX 320 #9223476 à vendre en France

RUDOLPH NSX 320 Masque et Wafer Inspection Equipment est un système unique qui est capable d'inspecter les masques et les wafers au plus haut niveau de précision et de résolution. Ce système utilise l'optique avancée et la technologie de traitement d'image pour fournir des résultats supérieurs avec une vitesse supérieure. L'unité est basée sur une architecture moderne qui comprend plusieurs composants de bord d'attaque tels que des tableaux de contrôle d'imagerie haute vitesse, des caméras, des lampes et des lentilles. La machine est équipée d'une carte d'imagerie de 10 mégapixels qui peut accueillir jusqu'à quatre caméras et peut capturer, traiter et analyser des images avec des grossissements jusqu'à 33 fois. Il dispose également d'une plate-forme de traitement d'image intégrée qui permet une inspection rapide des matériaux avec une précision et une résolution impressionnantes. L'outil est également équipé d'un module intégré d'emboîtement et d'alignement des plaquettes qui facilite et améliore le processus d'inspection des grandes plaquettes. L'actif comprend également une variété d'algorithmes propriétaires de traitement et d'analyse d'images, tels que des algorithmes avancés de reconnaissance de motifs qui aident à atténuer les faux positifs. En outre, il comprend également des capacités d'isolation et de caractérisation des défauts de pointe, la caractérisation automatisée des masques et des plaquettes, la traçabilité des défauts, l'analyse des rendements et le contrôle statistique des processus. Ce modèle permet une analyse détaillée des caractéristiques telles que la rugosité des bords de ligne (LER) avec une précision et une vitesse élevées. Il fournit également à l'utilisateur des fonctionnalités spéciales telles que des informations 3D sur les défauts et des fonctionnalités utilisant un module de topographie 3D innovant. L'équipement peut également identifier et trier les bons types de défauts pour les rendements, ce qui est important pour évaluer le contrôle de la qualité et l'optimisation des processus. NSX 320 Masque et Wafer Inspection System est un ensemble complet, offrant le meilleur de l'inspection de wafer. Avec une précision, une vitesse et une technologie de traitement d'image et des algorithmes de pointe inégalés, cette unité peut aider à maximiser le rendement et à améliorer l'efficacité. C'est l'outil idéal pour toute équipe d'inspection qui doit inspecter les masques et les plaquettes rapidement et avec précision.