Occasion RUDOLPH Waferview 320 #9311788 à vendre en France
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ID: 9311788
Taille de la plaquette: 12"
Style Vintage: 2006
Macro defect inspection system, 12"
2006 vintage.
RUDOLPH Waferview 320 est un équipement de pointe d'inspection des masques et des plaquettes conçu pour être utilisé dans les usines de fabrication de semi-conducteurs. Le système est hautement automatisé, avec diverses technologies de vision et d'inspection des plaquettes pour détecter et diagnostiquer les défauts actuels et offrir aux fabricants un contrôle sans précédent sur le processus de production. De la taille de la matrice à l'analyse des particules, l'unité RUDOLPH Waferview offre une précision et une fiabilité inégalées. La machine est optimisée pour une utilisation avec la technologie d'inspection des plaquettes à rayons X et optiques. Waferview 320 utilise l'éclairage à angle d'incidence variable pour capturer des images cohérentes aux fins d'examen et de mesure. De plus, l'outil dispose d'une table tournante de 12 pouces pour l'examen automatisé des défauts, et est équipé d'un étage linéaire de précision qui permet l'alignement automatisé des plaquettes. De plus, la capacité de reconnaissance des macro-dispositifs et des modèles de l'actif permet des processus d'inspection rapides et efficaces. RUDOLPH Waferview 320 offre également une gamme de fonctionnalités avancées conçues pour garantir des résultats précis à chaque fois. En utilisant les capacités Multimode brevetées RUDOLPH, les utilisateurs sont en mesure de changer rapidement et facilement entre les différents modes d'inspection en fonction de leurs besoins. Waferview 320 propose également des techniques avancées d'analyse et de caractérisation des défauts, y compris l'analyse des particules, la mesure 3D ou la reconnaissance des axes, ainsi que la mesure avancée des zones de défaut avec des correctifs multi-niveaux et des détections à double canal. RUDOLPH Waferview 320 est également hautement personnalisable. Le modèle peut être adapté aux besoins des utilisateurs dans n'importe quelle industrie, offrant une variété d'options pour répondre à des applications individuelles. Waferview 320 peut également être adapté à une gamme de configurations de laboratoire et des exigences de production, assure un entretien facile et des mises à jour dans le temps. Enfin, RUDOLPH Waferview 320 est un équipement robuste qui fournit aux utilisateurs une précision et une fiabilité sans précédent tout au long du processus d'inspection. Qu'il soit utilisé pour l'automatisation générale, la conduite d'essai, l'analyse au niveau des plaquettes, la mesure des particules ou la caractérisation des défauts, Waferview 320 est un atout pour toute usine de fabrication de semi-conducteurs. En outre, l'interface utilisateur intuitive du système et la vitesse de traitement rapide le rendent facile à utiliser pour tous, peu importe leur niveau d'expérience.
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