Occasion RUDOLPH Waferview 320 #9311789 à vendre en France

RUDOLPH Waferview 320 est un équipement d'inspection complet et de masque de pointe pour l'industrie des semi-conducteurs. Il combine un capteur CMOS numérique avec une technologie de programmation logicielle avancée pour fournir l'imagerie et l'analyse de la plus haute qualité de divers défauts et des informations de conception sur les masques et les plaquettes traitées par photo. Waferview 320 offre des images jusqu'à 2000 microns par pixel (2x meilleure résolution que les autres systèmes), assurant une détection et une analyse des défauts extrêmement précises. Ses capacités de capture d'image et de notification des défauts simplifient le processus d'inspection complète des plaquettes et garantissent la plus haute qualité du produit. Une caractéristique unique de RUDOLPH Waferview 320 est son autofocus laser et son suivi. Ce système permet l'imagerie détaillée et l'emplacement des défauts, qui sont essentiels pour inspecter avec précision les plaquettes. Waferview 320 utilise également des algorithmes avancés de détection de bord et de contraste, permettant la détection et l'analyse de défauts plus petits et moins évidents. En plus de ses capacités d'imagerie, RUDOLPH Waferview 320 effectue également une large gamme de mesures pour détecter et classer les défauts. Ces mesures sont effectuées avec une grande précision, ce qui permet des mesures d'une taille aussi petite qu'un seul micron. La programmation logicielle de Waferview 320 est conviviale et intuitive. Il permet une configuration et un fonctionnement simples, permettant à l'utilisateur d'ajuster facilement les paramètres et de personnaliser l'unité d'inspection pour répondre à leurs besoins spécifiques. En outre, le logiciel offre un rapport complet de l'utilisateur qui fournit des informations détaillées sur les défauts constatés dans le processus d'inspection. Dans l'ensemble, RUDOLPH Waferview 320 masque et wafer inspection machine est une solution tout-en-un pour l'étude des masques et wafers photo-traités défectueux ou défectueux. Il offre des capacités d'imagerie avancées et la mesure des défauts, offrant la plus haute résolution et la qualité de l'imagerie, ainsi que la facilité d'installation et de fonctionnement de l'utilisateur. Ces caractéristiques assurent une inspection précise du produit et aboutissent à la qualité optimale du produit.