Occasion RUDOLPH WV 320 #9391422 à vendre en France

L'équipement RUDOLPH WV 320 Masque et Wafer Inspection est un système automatisé à haute performance conçu pour assurer une détection rapide et précise des défauts de wafer. L'unité utilise la microscopie haute résolution (HRM) de pointe pour évaluer automatiquement les défauts sur les plaquettes et autres substrats. La machine se compose d'un ordinateur central, d'un microscope haute résolution et d'un certain nombre de systèmes d'imagerie et de détecteurs. L'outil RUDOLPH WV320 Mask & Wafer Inspection est capable de détecter un large éventail de défauts de substrat, y compris des défauts ouverts, des bords d'échantillons incomplets et une épaisseur de matériau inégale. L'actif utilise un modèle de caméra spécialisé et un logiciel de pointe pour les plaquettes d'image et d'autres substrats à une résolution allant jusqu'à 10 nanomètres. Ceci permet à l'équipement de détecter même le plus petit défaut sur un substrat, ce qui permet d'obtenir le plus haut niveau de précision dans la détection de défaut. Le système WV 320 Masque et Wafer Inspection offre une gamme de fonctionnalités. Il peut détecter une grande variété de matériaux, y compris le verre, les plaquettes de silicium et les substrats polymères. Il possède également des caractéristiques intégrées telles que le revêtement ionique et la sélectivité. Cela permet aux utilisateurs de sélectionner les types de défauts spécifiques qu'ils veulent que l'unité cherche. En outre, la machine offre trois niveaux de détection de défauts, y compris les défauts souples et durs, ainsi que la cartographie des conditions de substrat. L'outil offre également un certain nombre de capacités logicielles puissantes, y compris la planification automatique des tâches, la vérification des substrats et l'inspection automatique des défauts. Il dispose également d'une gestion avancée des données au niveau de l'entreprise, permettant aux utilisateurs de rechercher, stocker et gérer des données provenant de sources multiples. L'actif est également conçu pour une intégration facile avec d'autres systèmes, permettant une transition transparente des informations de défaut d'un modèle à l'autre. WV320 Masque et Wafer L'équipement d'inspection est conçu pour faciliter la vie des fabricants de wafer et des professionnels de l'évaluation des défauts de substrat. Il offre des résultats rapides et précis avec une intervention minimale de l'utilisateur et ne nécessite aucune connaissance ou compétence spécialisée pour fonctionner. Ce système est le choix idéal pour tout fabricant de plaquettes cherchant à augmenter leur précision et leur efficacité dans l'évaluation des défauts de substrat.