Occasion SDI CMS III-AR #9152693 à vendre en France

Le SDI CMS III-AR est un équipement d'inspection de masques et de plaquettes ultramoderne doté de capacités d'imagerie, d'analyse et de déclaration avancées. Il utilise l'algorithme de différence vectorielle moyenne (AVD), un algorithme d'inspection avancé basé sur plusieurs techniques d'imagerie différentes pour détecter et localiser rapidement les défauts sur les masques et les plaquettes. Le système dispose d'un module de projection laser descendant qui fonctionne à une résolution de 5µm, sur des échantillons de masque ou de plaquette d'un diamètre maximal de 300mm. Les composants d'imagerie de l'équipement fournissent une précision et une résolution améliorées pour détecter les défauts subtils tels que les variations de largeur de ligne ou le pontage. Les outils d'analyse polyvalents peuvent à la fois détecter et corriger les défauts. Le profil de masque et de plaquette et l'enregistrement de superposition, l'analyse automatisée de la forme du défaut et l'analyse des graines de défaut sont tous des capacités intégrées. L'étage sur l'unité est capable de manipuler des charges lourdes, et peut être utilisé pour l'imagerie de grande surface. Il intègre également un codeur haute résolution pour une précision de positionnement supérieure de l'étage. De nombreuses configurations sont disponibles, avec jusqu'à trois caméras pour l'imagerie RVB ou des sources lumineuses laser multifaisceaux pour une plus grande précision. Une machine optique pilotée par ordinateur calibre les faisceaux et les caméras pour des performances d'imagerie et de mesure optimales. Le logiciel de l'outil offre une interface utilisateur graphique sophistiquée, capable de comparer et de synchroniser plusieurs images et graphiques. Il prend également en charge un large éventail de formats pour l'échange et le stockage de données. Les fonctions d'analyse d'image et de reporting sont hautement personnalisables, avec des sources personnalisables et des outils d'analyse modulaire. Les capacités de déclaration avancées permettent une sortie de données rapide et facile pour tous les types de détection et de mesures de défauts. CMS III-AR est un atout très polyvalent, adapté à une gamme d'environnements de production. Son ensemble de fonctionnalités unique offre un moyen rentable d'augmenter le rendement dans les environnements de production avancés d'aujourd'hui. Grâce à ses capacités avancées, il garantit une performance optimale du procédé et une excellente qualité du produit.