Occasion SDI SPV / PDM 3020 #9042454 à vendre en France

SDI SPV / PDM 3020
ID: 9042454
Taille de la plaquette: 8"
Semiconductor diagnostics system, 8".
SDI SPV/PDM 3020 est un équipement d'inspection de masques et de plaquettes. Il est conçu pour fournir un ensemble complet et sophistiqué d'outils d'inspection pour la production de masques et de plaquettes. Il comprend quatre composantes principales : un système automatisé d'inspection des plaquettes, une unité automatisée d'inspection des masques, une machine d'inspection des panneaux et une composante manuelle pour appuyer l'inspection manuelle. L'outil automatisé d'inspection des plaquettes utilise une variété de capteurs et de technologies d'imagerie qui détectent et mesurent des caractéristiques telles que la taille, la forme, la densité des défauts et les caractéristiques électriques de la plaquette. Il est capable de détecter des erreurs, des anomalies et des inclusions. Les données qu'il produit peuvent ensuite être analysées par l'actif pour identifier les écarts et aider à déterminer le rendement d'une production. Le modèle automatisé d'inspection des masques fournit une analyse détaillée des masques, y compris les déformations, la topographie et les défauts. Il est capable de détecter toute une gamme d'erreurs, y compris la non-uniformité, les défauts de grains sombres, les défauts de contamination légère, le trou d'épingle et les erreurs de dimension critique. L'équipement d'inspection des panneaux est conçu pour fournir une large gamme de mesures sur des panneaux ou des dispositifs isolés. Cela comprend des mesures pour la caractérisation des performances, l'étalonnage de la puissance, le contrôle statistique des processus (RCP) et l'analyse du rendement. La composante manuelle du système fournit des capacités d'inspection complètes telles que l'analyse au microscope de la qualité du masque, l'évaluation de l'outillage et la cartographie des plaquettes. Il utilise des techniques de microscopie avancées telles que l'inspection des champs lumineux et des champs noirs, la microscopie électronique à balayage, les techniques de réflectance, la microscopie à force atomique, et plus encore. En résumé, l'unité d'inspection des masques et plaquettes SPV/PDM 3020 fournit une analyse complète et précise des masques et plaquettes avec des normes élevées de précision. Cette machine est capable de détecter un large éventail d'erreurs et d'anomalies pour augmenter les performances. Il fournit également des mesures détaillées pour l'analyse du rendement, le contrôle des procédés et la caractérisation des performances.
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