Occasion SEMILAB / SDI FAaSt 210E-SPV #9203133 à vendre en France
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ID: 9203133
Taille de la plaquette: 6"-8"
Contamination measurement system, 6"-8"
Unislide rotary table B4818TS
NEWPORT MM3000 + 23556
AD TECHNOLOGY 3800-1745
PHOTON Wheel BO76
SPV Lightsource
SIGNAL RECOVERY 197 Light chopper
PLANAR PL100M
ADEK R7IFI48AB
PC700 Monster power center
Trip lite power production
Astrodyne MSCA-5005
API Getty 230-6102FH
EG&G INSTRUMENTS 7265
TEXAS INSTRUMENTS Peripherals DT-5K-PS/2
Logic supply power LPS-12
WATLOW 96
DANAHER 1122317
MG Chemicals 846-80G
Manuals not included
Power supply: 110 AC, 50/60 Hz, 3000 W.
SEMILAB/SDI FAaSt 210E-SPV est un équipement de microscope à alignement de masque et de plaquettes de niveau moyen conçu pour inspecter les défauts, l'érosion et l'intégrité de surface des plaquettes et masques semi-conducteurs. Ce système dispose d'une commande automatique intégrée (SC) avec interface graphique intuitive conviviale (UI). Avec un encombrement de seulement 800 mm x 680 mm x 640 mm, cette machine d'inspection est compacte mais très polyvalente. SDI FAaSt 210E-SPV offre une variété de fonctionnalités pour responsabiliser les opérateurs de l'industrie des semi-conducteurs. Cet outil dispose d'un étage XYZ de 10 positions qui est capable d'inspection multicouche, d'alignement automatique et manuel des étages, d'inclinaison et de réglage de wobble, et de capacités d'autofocus avancées. Il offre également un affichage d'image de champ lumineux/champ sombre avec un fonctionnement direct sur plaquette, un condenseur de 6 positions avec 0.3-2.5X plage de grossissement, et une distance de travail allant jusqu'à 25X. SEMILAB FAaSt 210E-SPV fournit également des capacités d'acquisition et d'analyse d'images à différents niveaux. Avec la correction d'imagerie intégrée, le désalignement peut être détecté et identifié avec précision. Il comprend également une fonction avancée d'identification et de masquage basée sur des algorithmes pour l'inspection sans défaut, la détection des arêtes et l'analyse du nombre et de la taille des particules. En outre, une grande variété de mesures peuvent être prises, y compris la largeur de ligne, le profil de bord, et la précision de recouvrement. Pour aller de l'avant, FAaSt 210E-SPV est équipé d'une caméra CCD haute résolution, d'un temps d'exposition réglable et d'un puissant modèle d'analyse d'image basé sur PC pour générer une gamme encore plus grande de reconnaissance et d'analyse de défauts/caractéristiques. Cet équipement comprend également une gamme de fonctions de reporting d'images pour évaluer les résultats et visualiser instantanément l'état des passes/échecs. Dans l'ensemble, SEMILAB/SDI FAaSt 210E-SPV est un système fiable d'inspection des masques et plaquettes de niveau moyen conçu pour détecter et mesurer de manière fiable même les plus petits défauts. Il offre toute une série de fonctionnalités avancées pour s'assurer que les utilisateurs sont en mesure d'obtenir les meilleurs résultats de leur processus d'inspection.
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