Occasion SEMILAB / SDI FAaSt 300-SPV #173920 à vendre en France

ID: 173920
Taille de la plaquette: 8"-12"
Style Vintage: 1997
Surface photo voltage tester, 8"-12" Contact and non-contact surface photo voltage test capability Open cassette handling EQUIPE TECHNOLOGIES ATM-105 Wafer handling robot EQUIPE TECHNOLOGIES ESC-212 Robot controller EQUIPE TECHNOLOGIES PRE -3019 Wafer pre-aligner (2) NEWPORT RESEARCH MM3000 Motion controllers Light activation module: Designed for 200mm & 300mm wafers SDI Control Fe activation controller Dual halogen lamp housings Wafer analysis module: EG&G PAR 7260 DSP Lock-In amplifier SDI LPS-12 Power supply SDI Opto coupler Reference light module: Halogen lamp housing EG&G PAR 197 Light chopper Filter wheel assembly (8) Filters Fiber optic light delivery Wafer analysis chuck: Anodized aluminum wafer chuck, 8" Designed for 200mm & 300mm wafers Calibration chip fixture HEWLETT PACKARD Vectra XA computer: 3.5” Floppy disc drive / CD-ROM Drive SYQUEST ezflyer 230GB Backup tape drive Color LCD monitor, 15” Ghost HDD included 1997 vintage.
SEMILAB/SDI FAaSt 300-SPV est un équipement d'inspection de masque et de plaquettes leader dans l'industrie. Ce système est capable de fournir une imagerie haute résolution, un débit rapide et une logique d'image complète. En tant qu'unité avancée, elle combine les caractéristiques avancées d'un masque standard et d'une machine d'inspection des plaquettes avec la flexibilité d'une plate-forme entièrement configurable. L'outil principal se compose de deux composants principaux : une chambre d'inspection des masques et une cellule d'inspection des plaquettes. La chambre d'inspection du masque est capable de supporter une large gamme de masques et fournit des images plein champ, haute résolution jusqu'à 146 millions d'enregistrements par seconde. Il dispose d'un processeur de signal numérique ultra-bas bruit (DSP) permettant l'imagerie simultanée, le pointage et l'analyse de jusqu'à vingt-quatre masques en un seul lot. La cellule d'inspection des plaquettes offre un ensemble complet de fonctions d'inspection, y compris une imagerie haute résolution pouvant atteindre 24 millions de pixels par seconde et une logique d'image avancée pour la classification automatisée des défauts. SDI FAaSt 300-SPV offre également une variété de solutions de traitement et de gestion de données. Il supporte des fonctions logiques flexibles et l'acquisition de données permettant aux utilisateurs d'adapter l'actif à leurs besoins d'inspection spécifiques. Il permet également l'intégration de systèmes ou de composants d'inspection supplémentaires. Avec sa plate-forme entièrement configurable et son débit d'image rapide, le modèle peut être configuré pour répondre efficacement aux applications d'analyse des échecs les plus difficiles. En plus de ses capacités d'imagerie et d'acquisition de données, SEMILAB FAaSt 300-SPV est également équipé d'outils avancés pour la caractérisation et l'analyse automatisée des défauts. Il s'agit notamment de l'isolement des défauts, de l'analyse au microscope, de l'analyse automatisée des tests, de la simulation des défauts et de la visualisation optoélectronique. Cela permet aux utilisateurs d'identifier et de corriger rapidement les défauts afin d'éviter des temps d'arrêt coûteux en raison de pannes coûteuses. FAaSt 300-SPV est une solution leader pour l'inspection des masques et des plaquettes. Avec sa combinaison d'imagerie avancée, de débit d'image rapide et de logique d'image complète, l'équipement offre une flexibilité et des performances inégalées pour les applications d'analyse des défaillances exigeantes. Sa plateforme configurable et ses puissantes solutions de gestion des données permettent aux utilisateurs de répondre en toute confiance à leurs besoins les plus difficiles en matière d'analyse des défaillances.
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