Occasion SEMILAB / SDI FAaSt 350 #9236891 à vendre en France

SEMILAB/SDI FAaSt 350 est un instrument spécialisé conçu pour inspecter les masques et les plaquettes dans l'industrie des semi-conducteurs. L'équipement est composé d'un microscope optique avancé configuré avec un grabber de trame, une caméra numérique ou analogique, un logiciel de traitement d'image et un module de reconnaissance de motifs. Il est idéal pour les applications d'imagerie plus petites, telles que la filière de plaquettes, le motif de circuit ou les réticules. Le système est conçu pour détecter même les plus petites irrégularités, permettant une détection précoce de problèmes au sein du dispositif semi-conducteur qui seraient sinon trop petits pour être remarqués. Il peut examiner chaque région de la plaquette ou de l'élément pour s'assurer de son uniformité. Le SDI FAaSt 350 est équipé d'une unité d'éclairage plein champ et de microscopie centrée sur l'objet (OCM). Cette machine d'éclairage crée une lumière très lumineuse, uniforme, qui est dirigée et révélée sur l'échantillon en focalisant la lumière sur différentes parties à étudier. Ceci permet à l'outil de tirer parti des caractéristiques submicroniques, qui peuvent être difficiles à détecter avec des moyens traditionnels. Avec l'utilisation d'un outil de traitement d'image 3D, le modèle peut détecter et mesurer les caractéristiques avec une précision incroyable. Il utilise une méthode d'analyse géométrique pour permettre une vue tridimensionnelle du masque ou de la plaquette, permettant de surveiller plusieurs dimensions de caractéristiques en une seule opération. Cette flexibilité fait de SEMILAB FAaSt 350 un instrument très polyvalent, et il peut être utilisé pour diverses tâches d'inspection, de la simple analyse des défauts aux mesures complexes de profil, le tout dans un seul ensemble de données. L'équipement est facilement configuré avec un fonctionnement contrôlé par écran tactile complet, permettant aux opérateurs de travailler efficacement et avec précision. Il dispose également d'une grande variété d'options d'éclairage avancées telles que Planar, Point Guard, Line Guard, Analyse de contraste, Contrastes Multi-Canaux, Messagerie et opération à grande vitesse. Il peut être facilement programmé pour capturer avec précision et rapidité les images et les résultats. Dans l'ensemble, le FAaSt 350 est un système avancé d'inspection des masques et des plaquettes qui fournit une analyse haute résolution, une visualisation par objet et des résultats rapides et précis. Il peut être adapté à différentes tâches et environnements d'inspection et est une unité fiable et efficace pour assurer le plus haut niveau de contrôle de la qualité dans la production de semi-conducteurs.