Occasion SEMILAB / SDI FAaSt 350 #9268262 à vendre en France

SEMILAB/SDI FAaSt 350 Masque et Wafer Inspection Equipment est conçu pour l'inspection automatisée des défauts de surface des masques et wafers fabriqués lors de la production de circuits intégrés semi-conducteurs. Ce système automatisé offre une détection et une évaluation rapides et fiables des défauts de surface sur un large éventail de substrats, y compris les plaquettes, masques, cadres en plomb, composants électroniques et autres substrats plats. L'unité comprend la station optique complète SDI FAaSt 350, qui est équipée d'une optique Leica de haute qualité pour l'imagerie de précision et la détection des défauts. Grâce à sa capacité d'imagerie haute résolution, il peut détecter des défauts aussi petits que 4 μ m, tandis que sa machine d'éclairage brevetée Low-FG assure une image de fond sans défaut. Cet outil offre également un excellent contraste d'image et de visibilité pour faciliter l'identification et la classification des défauts. SEMILAB FAaSt 350 est conçu pour être extrêmement convivial, avec une interface graphique simple et intuitive permettant une inspection rapide et facile des échantillons. Différents paramètres peuvent être programmés et sauvegardés sur l'actif, ce qui permet à l'opérateur d'adapter rapidement la machine si l'échantillon examiné nécessite un protocole d'inspection différent. En plus du modèle d'imagerie, FAaSt 350 dispose également d'algorithmes d'inspection adaptatifs de sous-résolution qui permettent la détection et la classification en temps réel des défauts. Ces algorithmes analysent les images afin d'identifier avec précision les défauts de l'échantillon. En outre, la mise au point automatisée et l'optimisation du contraste de la machine Les technologies fournissent une capture d'image précise pour assurer la localisation exacte des défauts. L'équipement SEMILAB/SDI FAaSt 350 est également conçu pour le fonctionnement à haut débit, avec ses capacités de manutention automatisée des échantillons permettant d'inspecter jusqu'à 30 plaquettes par heure. Son module d'alignement automatisé des plaquettes s'adapte facilement à une grande variété de tailles et d'épaisseurs de plaquettes, permettant un alignement rapide et facile des plaquettes. Une fois aligné, le système est capable de produire des résultats quantitatifs détaillés, permettant une plus grande confiance dans la détection des défauts. En conclusion, SDI FAaSt 350 Mask and Wafer Inspection Unit est une machine automatisée avancée conçue spécifiquement pour l'inspection des masques et des plaquettes lors de la production de circuits intégrés à semi-conducteurs. Sa capacité d'imagerie haute résolution, son interface graphique intuitive et ses algorithmes d'imagerie avancés permettent une détection des défauts très précise et fiable, tandis que ses capacités de débit et de manipulation automatisée des échantillons en font un choix idéal pour l'inspection rapide des échantillons fabriqués.