Occasion SEMILAB / SDI FAaSt 350 #9308156 à vendre en France

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ID: 9308156
Taille de la plaquette: 12"
Wafer characterization system, 12".
SEMILAB/SDI FAaSt 350 est un équipement automatisé avancé d'inspection des masques et plaquettes qui est conçu pour répondre aux exigences les plus élevées dans l'industrie des semi-conducteurs. Il fournit une solution d'inspection complète qui offre des mesures statiques et dynamiques avec une grande précision et répétabilité. Le système utilise une technologie avancée de caméra et d'éclairage pour s'assurer que les images détaillées peuvent être capturées et analysées avec un degré élevé de précision. Cette unité est livrée avec une conception optique innovante qui combine des systèmes d'éclairage à champ lumineux, à champ sombre et UV pour examiner des objets à l'échelle µm et nm. Il est également en mesure d'inspecter les objets transparents et translucides avec t héritiers propriétés translucides entièrement visibles, permettant une inspection multi-die plus facile. De plus, la machine maximise le débit en incorporant une cassette à changement rapide et un grand porte-échantillons. Cela élimine la nécessité de se déplacer et de mesurer chaque échantillon, car l'échantillon reste fixé dans la même position tout au long des mesures. L'outil est également convivial et intuitif à utiliser. En outre, l'actif est capable d'identifier un large éventail de défauts tels que les motifs non uniformes, les rayures, les trous d'épingle, la contamination, les vides et les dommages. Il maintient une résolution ultra élevée de 0,2 µm et des résultats reproductibles constants. Pour assurer la précision, le modèle est équipé d'un processeur de traitement d'image numérique haut de gamme. L'optique avancée et l'équipement d'éclairage permet un alignement facile sur l'échantillon et l'intensité de l'éclairage. Le système SDI FAaSt 350 est conçu pour une analyse fiable et rapide des pannes. Il est idéal pour une utilisation dans la production ou des inspections optiques de fond. Il est adapté pour être utilisé dans diverses applications difficiles telles que la détection des défauts au niveau des plaquettes, l'inspection de l'assemblage de flip-chip et plus encore. L'unité assure une inspection de qualité et des rendements supérieurs, ce qui en fait une solution efficace et rentable d'inspection des masques et des plaquettes.
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