Occasion SEMILAB / SDI WT-2000PVN #293624183 à vendre en France

ID: 293624183
Style Vintage: 2014
Measurement system 2014 vintage.
L'équipement SEMILAB/SDI WT-2000PVN Masque et Wafer Inspection est une solution technologique sophistiquée et intégrée pour des tâches de vision de machine de qualité telles que la détection de défauts, la classification et la cartographie de surface de wafer. Sa technologie optique de pointe, permettant à la fois un large champ de vision et une imagerie haute résolution, permet une inspection rapide et précise des substrats structurés. SDI WT-2000PVN est conçu pour inspecter tous les substrats communs, tels que les réticules, les masques réticulaires, les photomasques, les masques plats, les masques OLED, les multiples couches de panneaux plats et même les surfaces irrégulières et courbes. Il dispose d'un système entièrement automatisé avec des dizaines de paramètres et de réglages qui peuvent être ajustés afin de répondre aux exigences spécifiques du processus d'inspection. Les multiples sources de SEMILAB WT-2000 PVN offrent de puissantes capacités d'imagerie. Une gamme de caméras monochromes et colorées offrent une flexibilité supérieure et une résolution et un contraste plus élevés que les systèmes d'inspection typiques des masques et des plaquettes. L'unité comprend un séparateur de faisceau, qui étend le champ de vision jusqu'à 20X pour une couverture plus efficace des masques et des plaquettes, un illuminateur actif pour une répartition lumineuse plus uniforme et une profondeur de champ améliorée, et une large gamme de configurations de lentilles pour tenir compte de différentes tailles de substrat, profondeurs et angles de champ. La machine dispose également d'un logiciel propriétaire de reconnaissance et d'analyse d'images appelé « Spector », qui détecte efficacement des défauts de taille allant de 1 micron à 50 microns. Il a un haut degré de précision et une interface utilisateur rapide et intuitive. Ses algorithmes permettent à l'outil de détecter rapidement et avec précision divers types de défauts, tels que les smudges, les particules, les rides et les vides sur l'ensemble du masque ou de la plaquette. WT-2000PVN peut également être utilisé pour produire des images aériennes détaillées et à haute résolution de masques et de plaquettes à des fins d'analyse et d'inspection comparatives. Le logiciel de l'actif permet l'analyse 3D des images capturées, l'analyse détaillée des pixels individuels et l'amélioration des capacités de contrôle de la qualité. En outre, le modèle comprend plusieurs autres fonctionnalités qui aident à améliorer la productivité, comme l'étalonnage automatisé, le contrôle avancé des processus, la mise au point automatique et le suivi intégré pour relier les images aux numéros de série. WT-2000 PVN est également conçu pour être facile à entretenir et à mettre à niveau, éliminant le besoin de visites de service fréquentes, ce qui contribue à réduire les coûts de main-d'œuvre à long terme. En résumé, SDI WT-2000 PVN est un équipement avancé et puissant conçu pour fournir des capacités d'inspection de qualité pour tous les types de substrats à motifs. Avec son large éventail de caractéristiques et de paramètres, il est un outil efficace et rentable pour les besoins de contrôle de la qualité de toute industrie.
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