Occasion SEMILAB / SDI WT-2000PVN #293625326 à vendre en France

SEMILAB/SDI WT-2000PVN est un équipement d'inspection de masques et de plaquettes conçu pour la fabrication de semi-conducteurs. Il est capable de scanner et d'inspecter une grande variété de masques, de photomasques, de microlithographies et de plaquettes jusqu'à 200mm. Le système est également très fiable et précis car il peut détecter de très petits défauts qui sont typiquement indétectables pour l'œil humain. SDI WT-2000PVN est équipé de systèmes d'éclairage avancés et d'un microscope à longue distance de travail. Cela permet à l'opérateur d'inspecter rapidement et précisément la surface d'une plaquette sans avoir à déplacer la plaquette. L'unité dispose également d'un contrôle automatique de focalisation et de calibration qui permet une imagerie haute résolution et améliore considérablement la précision. SEMILAB WT-2000 PVN est capable de scanner et d'inspecter une grande variété de masques, de photomasques, de microlithographies et de plaquettes jusqu'à 200mm de taille. Il inclut un module à laser intégré avec une longueur d'onde de balayage de 633nm, l'optique de haute qualité et vite le balayage de la vitesse de 5μm pour permettre l'inspection de grandes régions. La machine est également capable d'autofocaliser, donc même si la surface de la plaquette est inégale ou courbe, la qualité de l'image restera nette et nette. En outre, l'outil est équipé d'un module d'inspection intégré de haute qualité pour repérer les défauts microscopiques tels que les particules, les rayures ou les fissures. Ce module peut détecter même les plus petits défauts à la surface d'une plaquette, permettant à l'opérateur d'effectuer une analyse approfondie et de prendre des mesures préventives. SDI WT-2000 PVN est conçu avec un logiciel d'interface facile à utiliser qui permet aux opérateurs de surveiller facilement le processus d'analyse en temps réel. Le logiciel fournit également un guidage à l'écran et diverses fonctions de traitement d'image telles que la moyenne d'image, la couture d'image et le masque d'image pour assurer la plus grande précision dans la détection des défauts. Dans l'ensemble, SEMILAB/SDI WT-2000 PVN offre un niveau élevé de précision, de vitesse et de fiabilité pour la détection et l'analyse des défauts microscopiques sur la surface du masque et de la plaquette. Ses systèmes d'optique et d'imagerie de pointe garantissent des images claires et vives à chaque fois, tandis que son contrôle automatisé de focalisation et d'étalonnage permet aux opérateurs d'inspecter rapidement et avec précision les grandes surfaces. L'interface facile à utiliser et le module d'inspection intégré améliorent plus loin l'accessibilité totale et faisant marcher l'expérience, en rendant WT-2000PVN un choix idéal pour tout processus de fabrication de semi-conducteur.