Occasion SEMILAB / SDI WT-2000PVN #9227867 à vendre en France

L'équipement SEMILAB/SDI WT-2000PVN Masque et Wafer Inspection est un système d'inspection multi-capteurs qui utilise les technologies de métrologie optique et dimensionnelle pour détecter divers défauts, y compris la contamination des particules, les matériaux étrangers, les pages de guerre, les rayures, les fosses et les conditions générales de surface. L'unité est spécialement conçue pour l'analyse des puces de niveau de plaquette ou de niveau de filière, ainsi que des dispositifs optoélectroniques tels que MEMS, LCD et paquets 3D. SDI WT-2000PVN permet aux utilisateurs d'inspecter rapidement de grandes surfaces de plaquettes ou de puces avec une grande précision grâce à son capteur optique haute résolution et des mesures dimensionnelles précises. La machine dispose d'un design ergonomique avec des commandes tactiles faciles à utiliser qui permettent de sélectionner facilement les paramètres de test corrects pour chaque application. L'outil hautement intégré dispose également d'une variété de mécanismes automatisés pour l'échantillonnage et le contrôle de l'environnement d'essai, assurant une précision et une fiabilité toujours élevées. En outre, son processus automatisé de coloration des images améliore encore le contraste global des images, permettant aux utilisateurs de détecter plus facilement les défauts. SEMILAB WT-2000 PVN Masque et Wafer Inspection offre une analyse fiable et efficace de grandes quantités de puces et de dispositifs optoélectroniques pour une large gamme d'applications. Le modèle offre une grande précision, des résultats reproductibles et une facilité d'utilisation, ce qui en fait la solution idéale pour les fabricants de puces, les fabricants de masques et d'autres applications électroniques.