Occasion SEMITEST Epimet II #293646413 à vendre en France

SEMITEST Epimet II est un équipement d'inspection de masque et de plaquettes pour l'industrie des semi-conducteurs. Il assure l'inspection automatisée, l'inspection de la qualité et la métrologie d'un large éventail de plaquettes et de couches minces. Le système est conçu pour optimiser la précision et la qualité du produit. L'unité utilise des techniques avancées de microscopie électronique à balayage (SEM) pour assurer une inspection haute résolution et un contrôle de la qualité des plaquettes et des couches minces. Il est conçu pour inspecter des matériaux aussi minces que quelques microns. Epimet II est équipé d'une gamme de détecteurs avancés, y compris des détecteurs rétrodiffuseurs, des détecteurs d'électrons secondaires et des détecteurs de rayons X micro-focaux, qui permettent une résolution maximale. La machine intègre des capacités avancées de positionnement et de manipulation d'échantillons, permettant à l'utilisateur de visualiser, mesurer et inspecter avec précision les caractéristiques des plaquettes et des films minces. L'étage intégré permet un positionnement rapide et précis de l'échantillon tout en offrant une grande capacité de charge de travail. SEMITEST Epimet II intègre également des algorithmes avancés de traitement d'image numérique des capacités étendues d'analyse d'image. Cela permet à l'utilisateur d'identifier et de mesurer facilement les défauts et les anomalies en utilisant des capacités de capture et d'affichage numériques en temps réel. L'outil comprend également des outils logiciels conviviaux qui permettent d'inspecter toute la surface de la plaquette et permettent à l'utilisateur d'identifier, de classer et de mesurer les défauts avec une précision maximale. L'actif fournit également des capacités pour le contrôle des processus, les tests de qualité et les tâches de métrologie. Les capacités de métrologie intégrées permettent aux utilisateurs de mesurer avec précision l'épaisseur de la plaquette, la topographie de surface et d'autres informations pertinentes. En outre, le modèle est capable de mesurer avec précision les caractéristiques 3D et peut acquérir des images de faisceaux ioniques focalisés. En outre, Epimet II fournit une variété de diagnostics et de tests, y compris le courant de fuite, l'inspection et l'analyse du masque, la vérification de la taille de la matrice, les mesures de contraintes, les modèles de tests électriques, la mesure de la vitesse de balayage, et plus encore. Ces tests garantissent la cohérence et la qualité des produits et contribuent à simplifier le processus de développement et de fabrication. Dans l'ensemble, SEMITEST Epimet II est un équipement avancé d'inspection de plaquettes et de couches minces conçu pour maximiser la précision, la qualité et la productivité. Avec ses détecteurs avancés, ses capacités de positionnement et de manipulation d'échantillons, son traitement d'image numérique et ses capacités de métrologie intégrées, Epimet II offre une solution puissante pour l'industrie des semi-conducteurs.