Occasion SEMITEST Epimet II #9105435 à vendre en France

SEMITEST Epimet II
ID: 9105435
Epi layer resistivity tester, up to 8".
SEMITEST Epimet II est un équipement d'inspection de masques et de plaquettes conçu pour l'analyse multi-niveaux de tous les types de motifs de lithographie. Ce système comprend des options de configuration optique avancées et fournit une imagerie haute résolution et la reconnaissance algorithmique des fonctionnalités. Les composants principaux d'Epimet II sont le microscope optique et une unité de commande. Le microscope optique capture les images de l'échantillon modélisé à l'aide de l'éclairage laser et les recueille dans un format numérique. Les lentilles objectives offertes par l'unité permettent différents degrés de grossissement pour évaluer les motifs avec plus de détails. L'unité de contrôle est utilisée pour analyser les images de motifs. Il contient un traitement rapide, des fonctionnalités avancées de reconnaissance algorithmique, et est capable de fournir une analyse en temps réel. L'unité de contrôle peut être utilisée pour comparer les motifs avec des images de référence, mesurer des caractéristiques telles que la largeur de ligne et le pas entre les lignes, détecter des défauts et identifier des problèmes de rendement potentiels. En plus de l'analyse d'image, SEMITEST Epimet II peut être utilisé pour le test automatisé des plaquettes. La machine peut être équipée de capteurs de contact et sans contact, tels que des ellipsomètres spectroscopiques, pour mesurer les propriétés électriques et optiques de la plaquette. Cela permet d'effectuer des essais pendant le processus de production afin d'identifier tout problème potentiel avant l'achèvement. Epimet II fournit un outil d'inspection des masques et plaquettes précis, rapide et fiable. Il offre un processus hautement automatisé pour détecter les défauts potentiels et les problèmes de rendement dans les plaquettes à motifs. L'actif permet une analyse à plusieurs niveaux de l'échantillon étudié et fournit une rétroaction détaillée sur les caractéristiques et les propriétés de l'échantillon pour une évaluation précise.
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