Occasion SMS TSM 3000W-RCZ #293654288 à vendre en France

SMS TSM 3000W-RCZ Masque et Wafer Inspection Equipment est un système automatisé utilisé pour inspecter la qualité et l'intégrité des masques et wafers utilisés dans l'industrie des semi-conducteurs. Cette unité fiable et performante est conçue pour fournir des inspections rapides et précises des modèles les plus petits et les plus complexes. La machine est équipée d'un outil d'alignement d'autofocus laser et d'un actif propriétaire de détection de scanner humide qui utilise la théorie de la diffusion de la lumière pour l'imagerie sous-micron résolution. Le modèle dispose d'un microscope optique Euro eBeam et d'un nouvel équipement d'imagerie CMOS à large champ pour la couverture de grandes surfaces. Ces systèmes d'imagerie haute résolution fournissent des données utilisées pour la métrologie, l'inspection automatique des défauts et l'inspection automatisée de l'impression. Le système fournit également une variété d'outils pour une utilisation générale en laboratoire. L'unité fournit également une variété de fonctionnalités liées au test de puce et à l'analyse de rendement. Parmi ces caractéristiques figurent le contrôle des particules, le calibrage des particules et la caractérisation des particules par profilage de température et cartographie de la pression. De plus, la machine est capable de détecter les défauts en ligne, de détecter les champs plats et d'effectuer des inspections croisées avec des mesures 3D. L'outil peut également détecter des défauts critiques de niveau micron. L'actif comprend des fonctionnalités et des logiciels pour aider à automatiser le processus d'inspection. Il s'agit notamment du traitement par lots, de la reconnaissance des motifs et des algorithmes « smart-remove ». En outre, le modèle prend également en charge un large éventail de langages d'analyse qui peuvent aider à améliorer la précision de la détection et de l'analyse des défauts. Le masque TSM 3000W-RCZ et l'équipement d'inspection Wafer sont conçus pour un débit élevé, la fiabilité et la rentabilité. C'est une solution robuste pour la détection des défauts et le maintien de la qualité des masques et des plaquettes. Il fournit des outils pour l'inspection et l'analyse efficaces d'un large éventail de dimensions critiques, ce qui en fait un choix idéal pour l'industrie des semi-conducteurs.