Occasion SONIX CSAM UHR 2001 #100833 à vendre en France

SONIX CSAM UHR 2001 est un équipement avancé d'inspection de masque et de plaquettes à haute performance. Il est conçu pour effectuer la résolution et l'analyse précises et précises des défauts automatisés des plaquettes et masques semi-conducteurs, créant des rendements plus élevés dans la production de dispositifs semi-conducteurs complexes. CSAM UHR 2001 utilise un système optique haute résolution, capable de détecter un large éventail de défauts de différentes tailles, formes, formes et emplacements. Ses capacités automatisées de résolution et d'analyse des défauts permettent à l'utilisateur final d'identifier rapidement et avec précision les défauts et les problèmes de processus potentiels, ce qui élimine le temps et les hypothèses. Cela fait de SONIX CSAM UHR 2001 l'unité idéale pour l'inspection rigoureuse des plaquettes et masques semi-conducteurs. Au cœur du CSAM UHR 2001 se trouve sa machine optique haute résolution, composée de plusieurs composants dont une source d'éclairage multi-longueurs d'onde, des relais optiques et des éléments de focalisation, des systèmes de capture d'image et un processeur programmable d'analyse des défauts. L'outil utilise une variété d'optiques sophistiquées, de dispositifs à couplage de charge et d'algorithmes de traitement d'image pour détecter des changements subtils dans les propriétés de diffusion et de réflectance à différentes étapes du processus de capture d'image. Ces données sont ensuite traitées et affichées pour donner une vue détaillée des défauts. L'actif est conçu pour être convivial, éliminant tout besoin de formation des opérateurs. Grâce à son interface intuitive avec écran tactile, l'opérateur peut facilement ajuster les paramètres d'inspection, personnaliser les affichages de sortie et contrôler le modèle de capture d'image. Il offre également une gamme de différents modes d'imagerie, y compris le champ lumineux et le champ sombre, le spectre graduel, l'imagerie en vue latérale et l'imagerie 3D. SONIX CSAM UHR 2001 est l'un des systèmes les plus avancés disponibles pour l'inspection et l'analyse des défauts de masque et de plaquette. Son équipement optique haute résolution, associé à ses contrôles conviviaux, en fait une solution d'inspection idéale pour les fabricants de semi-conducteurs. Ses capacités d'analyse efficaces et précises réduisent considérablement les coûts de production, le temps et la complexité, ce qui en fait le système parfait pour l'inspection rigoureuse des masques et plaquettes semi-conducteurs.