Occasion TESTER SOFT TSL-FVT-DX 3.5 #293598395 à vendre en France

TESTEUR SOFT TSL-FVT-DX 3.5 est un équipement avancé d'inspection Masque et Wafer conçu pour fournir une solution automatisée pour l'inspection rapide et précise des dispositifs semi-conducteurs. Le système dispose d'une caméra haute résolution, l'automatisation de balayage laser, et la technologie avancée de classification des défauts. TESTEUR SOFT TSL-FVT-DX 3.5 utilise une caméra haute résolution pour capturer des images du masque et de la plaquette, permettant une inspection précise. L'unité peut également être utilisée en conjonction avec d'autres techniques, telles que la cartographie des plaquettes et le montage, pour assurer la précision et la cohérence. L'automatisation par balayage laser de TESTER SOFT TSL-FVT-DX 3.5 permet de mesurer les caractéristiques électriques et topographiques du masque et de la plaquette. La machine effectue également un contrôle des taches et autres anomalies de surface. La technologie avancée de classification des défauts de l'outil est capable de classer avec précision les défauts détectés. De plus, TESSOFT TSL-FVT-DX 3.5 est également capable d'auto-étalonnage et de réinitialisation automatisée des échantillons, ainsi que de multiples inspections du même échantillon. En outre, l'actif dispose également de capacités de reconnaissance de modèles MESH qui permettent une inspection précise et efficace de plusieurs types d'échantillons à la fois. Les opérations complètes du modèle sont contrôlées par un panneau tactile moderne GUI, rendant le fonctionnement de l'équipement rapide et simple. Les capacités avancées du système permettent de produire des rapports détaillés avec une analyse précise des défauts. TESTEUR SOFT TSL-FVT-DX 3.5 est capable de fournir une solution efficace, fiable et rentable d'inspection des semi-conducteurs. La combinaison de l'imagerie haute résolution et de l'automatisation par balayage laser assure précision et cohérence, tandis que sa fonctionnalité avancée de classification des défauts permet une analyse rapide et précise des défauts. Le fonctionnement pratique de la machine et ses fonctions de reporting complètes en font un choix idéal pour les installations de production de masse et autres applications de semi-conducteurs.