Occasion TOKYO AIRCRAFT MEASUREMENT MAC-90 #293587747 à vendre en France

TOKYO AIRCRAFT MEASUREMENT MAC-90 est un équipement d'inspection de masques et de plaquettes qui donne des résultats constants et mesurables. C'est un élément essentiel de toute installation moderne de traitement des matériaux semi-conducteurs. Le système comprend quatre sous-systèmes primaires : le sous-système Frame, le sous-système Analyzing, le sous-système Tri et le sous-système Wafer. Le sous-système Frame est responsable des mesures physiques du masque et de la plaquette. Pour mesurer avec précision les dimensions et les caractéristiques du masque et de la plaquette, l'unité utilise différents capteurs, tels qu'une jauge d'épaisseur ultrasonore, un compteur de pastilles diélectriques et un capteur d'inspection du chanfrein. Il comprend également un micro-ordinateur intégré et une interface utilisateur pour guider l'utilisateur dans le processus de saisie des mesures et d'exécution de tests comparatifs. Le sous-système d'analyse est essentiel pour effectuer une analyse objective du masque et de la plaquette. La machine se compose d'algorithmes spéciaux qui peuvent détecter des défauts, tels que des fissures, des vides, des caractéristiques de surface non uniformes, et des inclusions. Les informations recueillies par ce sous-système sont ensuite utilisées pour déterminer la qualité globale du matériau et aider à déterminer les meilleurs moyens possibles pour le traiter. Le sous-système de tri fait partie intégrante de la catégorisation des masques et plaquettes en fonction de leur taille et de leur qualité. Après avoir analysé le matériel avec le sous-système d'analyse, le sous-système de tri peut diviser le matériel en catégories telles que « basse qualité », « haute qualité », « très mauvaise qualité » et « très haute qualité ». Enfin, le sous-système Wafer est chargé de mesurer avec précision la forme de la plaquette. Ce sous-système utilise des algorithmes puissants pour détecter les changements de caractéristiques de surface et détecter la planéité et les surfaces. Les informations recueillies ici peuvent aider à déterminer si la plaquette peut être utilisée dans une chaîne de production. Dans l'ensemble, MAC-90 est un élément essentiel de toute installation moderne de traitement des matériaux semi-conducteurs. En combinant les sous-systèmes Frame, Analyzing, Tri et Wafer, l'outil est en mesure de fournir des résultats constants et mesurables. En outre, ses algorithmes puissants et son micro-ordinateur intégré permettent à l'actif de détecter et catégoriser les masques et plaquettes avec une grande précision.