Occasion TOPCON VI-3200 #9157679 à vendre en France

TOPCON VI-3200 est un équipement d'inspection de masque et de plaquettes de haute précision conçu pour l'industrie des semi-conducteurs. Avec des fonctionnalités automatisées, le système offre des capacités avancées de détection des défauts avec une isolation rapide et précise des défauts. L'unité est conçue pour répondre aux exigences de qualité et de précision des inspections des plaquettes semi-conductrices et des masques. La machine dispose d'un microscope optique haute résolution et de la technologie LIDR (Laser Induced Damage Reduction). Le microscope optique fournit une clarté et une précision allant jusqu'à 1nm pour un examen précis de la plaquette, tandis que la technologie LIDR identifie et élimine les défauts critiques qui pourraient avoir une incidence sur la fonctionnalité de la plaquette. Le logiciel avancé de traitement et d'analyse d'images permet la détection d'une petite taille de tache et est livré avec la détection omnidirectionnelle des défauts de surface, la détection des bords d'image, la détection des défauts de ligne, la correspondance des motifs, et les fonctionnalités avancées de détection des motifs. De plus, l'outil offre des outils de mesure automatisés tels que la détection de disque optique, le contrôle du temps de rafraîchissement, l'analyse de motifs concaves/crêtes convexes, l'analyse de l'épaisseur du film, l'analyse de la taille et de la forme des éléments d'image et la reconnaissance de motifs positionnels. VI-3200 prend également en charge les routines d'inspection telles que la visualisation manuelle SEM, la frappe, le faisceau de focalisation variable et l'analyse dynamique. Ceux-ci permettent à l'actif de mesurer avec précision des caractéristiques telles que des bosses de puce flip et des billes de soudure, ainsi que des problèmes de films minces métalliques tels que les taux d'adhérence ou de gravure. Le modèle supporte également le piquage d'image et la détection différentielle pour la reconnaissance complète des plaquettes, afin d'éviter toute interférence des structures voisines. Avec son interface utilisateur intuitive et son équipement de contrôle intégré, TOPCON VI-3200 offre un fonctionnement facile et un retour d'information rapide sur les performances. Sa combinaison de fonctionnalités avancées, sa capacité d'inspection avancée et sa facilité d'utilisation en font une solution idéale pour une grande variété d'inspections de plaquettes et de masques à semi-conducteurs.