Occasion TOPCON VI-3200 #9410949 à vendre en France

TOPCON VI-3200 est un masque à haut débit et un équipement d'inspection des plaquettes conçu pour l'industrie des semi-conducteurs. Il offre des performances d'imagerie de haut niveau et d'inspection automatisée des défauts, contribuant à assurer un contrôle optimal des processus et des économies de coûts. VI-3200 utilise le champ lumineux, le champ sombre et le Wafer Spectrum Imaging (WSI) pour fournir une gamme complète de capacités d'inspection. L'imagerie par champ lumineux est utilisée pour détecter les défauts de taille et de localisation, tandis que l'imagerie par champ sombre détecte les irrégularités de motifs et les variations de largeur de ligne. WSI saisit efficacement la forme, la position et l'état exacts d'un large éventail de défauts, y compris les vides, les rayures et les marques de contamination. Le système offre des détails et une précision d'image supérieures, ainsi qu'un mélange impressionnant de capacités, y compris la configuration d'inspection automatisée et l'optimisation des paramètres, l'analyse d'image 3D et l'analyse complète des défauts. Sa configuration d'inspection automatisée et ses fonctions d'optimisation des paramètres permettent à l'unité d'optimiser rapidement les paramètres de la tâche à accomplir, tandis que ses capacités d'analyse d'image 3D fournissent des mesures de haute précision des erreurs de motif et d'alignement. TOPCON VI-3200 possède une capacité avancée d'analyse des défauts qui comprend la reconnaissance des motifs et l'analyse quantitative des images aériennes, permettant d'identifier des niveaux de petite taille. Pour garantir une qualité d'image supérieure et des performances maximales, la machine est équipée d'un outil optique de nouvelle génération, ainsi que d'un processeur d'image haute performance. L'actif est conçu pour une installation et un fonctionnement rapides et faciles, ce qui le rend bien adapté aux environnements de production occupés. Il dispose également d'une large gamme de fonctions intégrées de mesure de la qualité et des défauts, y compris des mesures de dimensions critiques optiques 2D/3D, qui peuvent être utilisées pour analyser et mesurer de grands modèles complexes de masques. VI-3200 est un modèle de masque et d'inspection de plaquettes puissant et hautement capable qui combine une qualité d'image et une précision supérieures avec une gamme impressionnante de capacités. En aidant à assurer un contrôle optimal des processus et des économies de coûts, c'est un excellent choix pour les environnements de fabrication de semi-conducteurs.