Occasion TOPCON Vi-SW200C #293607035 à vendre en France

TOPCON Vi-SW200C est un équipement d'inspection des masques et des plaquettes conçu pour fournir une inspection des défauts haute sensibilité et haute résolution du point de vue d'une marque de masque et d'un processus de gravure. Le système dispose d'une technologie d'imagerie et de détection unique qui lui permet d'inspecter de grands masques et plaquettes semi-conducteurs aux niveaux µm et sub µm. Ses performances ultra-élevées offrent des capacités d'imagerie, de détection et d'analyse rapides, précises et fiables. Vi-SW200C utilise une unité Multi-Beam Iris pour recueillir et traiter des données, ce qui lui permet d'inspecter tout type de défaut ou de matériau étranger à la surface d'un dispositif semi-conducteur. La machine dispose d'une technologie unique de filtrage d'image et de post-traitement qui élimine les fausses détections et aide à l'enquête précise de polarité. Il dispose également d'un outil de mesure d'échelle de longueurs d'onde basé sur l'interféromètre qui permet un contrôle et un alignement précis de l'action automatique. L'actif peut détecter avec précision les défauts sur les masques et les substances étrangères sur les plaquettes. Le modèle Multi-Beam Iris capture les défauts de sous-µm et peut mesurer la taille, la forme et l'ampleur du défaut, ainsi que sa position par rapport à la marque de masque. Il est également capable de compter les particules et de détecter les défauts sur des plaquettes simples et doublement latérales. Il peut également mesurer la taille, la forme et le type de chaque défaut, aidant à déterminer l'origine des substances étrangères. L'interface utilisateur de TOPCON Vi-SW200C aide l'opérateur à suivre le déroulement de l'inspection. Il fournit un ensemble complet d'outils pour faciliter l'analyse des données et l'examen manuel des défauts détectés. Il comprend également des bibliothèques de numérisation de données qui peuvent être utilisées pour comparer et stocker les résultats de différentes inspections. L'équipement est équipé d'un système d'auto-alignement qui simplifie le processus de positionnement entre les différentes couches, ainsi que d'un microscope 3D qui permet à l'opérateur de visualiser tout type de fonctionnalité ou de défaut tout en restant dans sa position d'origine. Il dispose également d'une fonction d'inspection optique en ligne qui peut être utilisée pour vérifier rapidement les plaquettes avant l'inspection complète. Vi-SW200C est conçu pour une détection rapide, précise et fiable des défauts sur les masques et plaquettes à semi-conducteur. Il fournit une solution complète d'imagerie, de détection, d'analyse et de rapport qui se traduit par un rendement amélioré dans la production et moins de puces défectueuses.