Occasion TOPCON WM 10 #9243645 à vendre en France

TOPCON WM 10 est un équipement d'inspection de masques et de plaquettes conçu pour permettre une mesure rapide et précise et la détection des défauts. Ce système dispose d'une unité avancée de métrologie du silicium, qui utilise un étage de nano-positionnement de haute précision pour permettre une traversée précise sur l'ensemble de la plaquette ou du réticule. TOPCON WM-10 utilise une puissante machine à lentilles pour fournir une image du masque et de la plaquette. Cela inclut à la fois les modes d'imagerie de champ lumineux et de champ noir, qui sont conçus pour maximiser la définition de la plaquette et du masque, ainsi que d'augmenter la visibilité des défauts. En outre, cet outil contient des capacités avancées de traitement d'image, qui permettent d'améliorer les résultats d'inspection visuelle et d'améliorer la précision. L'actif dispose également d'un scanner optique à quatre canaux unique, qui utilise quatre lasers, lui permettant de scanner une plaquette dans les axes X et Y. Cela permet une inspection précise de la plaquette et du masque sans compromettre les détails ou la précision. En outre, le modèle est équipé d'une multitude d'outils automatisés, qui permettent aux utilisateurs d'effectuer une gamme de mesures en une fraction du temps. Afin d'assurer la précision, WM 10 est également équipé d'une gamme de sondes très sensibles. Ces sondes permettent aux utilisateurs de mesurer avec précision la forme et la taille des structures du masque et de la plaquette, tout en conservant des résultats fiables. WM-10 dispose également d'un support pour plusieurs normes de données, permettant aux utilisateurs de transférer des données vers d'autres systèmes et d'effectuer un diagnostic ou une analyse à distance. Cet équipement a été conçu en tenant compte de l'évolutivité, ce qui signifie qu'il peut être ajusté pour répondre aux besoins spécifiques de toute application d'inspection. Dans l'ensemble, TOPCON WM 10 fournit aux utilisateurs un masque puissant, très précis et efficace et un système d'inspection des plaquettes. Ses capacités avancées de métrologie du silicium, de balayage optique et de traitement d'image le rendent idéal pour l'inspection des applications de semi-conducteurs et d'affichage. En outre, son support standard multi-données, son évolutivité et sa conception conviviale en font un excellent choix pour toute tâche d'inspection.