Occasion TOPCON WM 1700 #293807247 à vendre en France

TOPCON WM 1700
ID: 293807247
Wafer surface inspection system.
TOPCON WM 1700 est un équipement d'inspection de masques et de plaquettes conçu pour fournir des niveaux élevés de rendement et permettre aux utilisateurs de prendre des décisions éclairées lors du développement de différents types de circuits intégrés. Il dispose d'un design avancé optimisé pour des performances et une fiabilité élevées, ainsi que d'un système optique évolutif pour une meilleure résolution. L'unité d'inspection utilise un capteur d'image CMOS de réseau de pixels 2048x2048 qui peut capturer des images uniques jusqu'à 5 mégapixels. Il a la capacité de détecter les défauts microscopiques avec la résolution la plus élevée jusqu'à 0,5 μ m - les images rouges, vertes, bleues et neutres peuvent être prises simultanément. La précision de la machine est de 0,2 μ m et elle peut mesurer les caractéristiques locales et globales. La conception du WM 1700 vise à maximiser le débit et à permettre des opérations efficaces. L'outil est alimenté par un processeur multicoeurs 32 bits et dispose d'une station de sonde intégrée avec réglage automatisé de l'échantillon pour la vitesse et la commodité. Il possède un grand capteur de 11,4 pouces avec une sensibilité supérieure pour détecter les défauts de contraste faible, et un CCD linéaire de 8 mégapixels pour les images en champ lumineux. La source lumineuse intégrée est configurable à la fois pour l'éclairage et l'imagerie, offrant aux utilisateurs un large éventail de possibilités d'inspection. L'actif est compatible avec de nombreux formats logiciels populaires, y compris JEOL, TEL, et l'exactitude. Il prend en charge des solutions logicielles pour la réparation de masques semi-conducteurs et pour l'inspection 3D à travers le silicium via (TSV). Sa plateforme logicielle intégrée permet aux utilisateurs d'accéder rapidement aux données et de configurer les paramètres d'inspection avancés. Le modèle est également conforme aux protocoles et aux normes de l'industrie tels que les normes d'interface pour la Semiconductor Equipment and Materials International (SEMI). TOPCON WM 1700 offre une solution efficace, flexible et économique pour l'inspection des masques et plaquettes haut de gamme. Sa conception avancée aide les utilisateurs à répondre aux demandes de l'industrie pour des opérations fiables et à haut rendement. Grâce à sa résolution améliorée, à sa source lumineuse configurable et à sa large gamme de formats logiciels compatibles, les utilisateurs peuvent évaluer rapidement et avec précision les défauts à l'échelle micro et effectuer des inspections 3D TSV.
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