Occasion TOPCON WM 2500 #293616515 à vendre en France

TOPCON WM 2500 est un équipement avancé d'inspection des masques et des plaquettes conçu pour détecter et identifier les défauts microscopiques dans les plaquettes et masques à semi-conducteurs. Le système dispose d'une multitude de caractéristiques et de technologies telles qu'un réseau optique linéaire, une unité d'optique binaire avancée, une opération de métrologie embarquée, et une machine d'analyse avancée des défauts, qui peut détecter et classer des défauts encore plus petits que la taille d'un seul transistor. Au cœur de WM 2500 se trouve son tableau optiquement linéaire, qui fonctionne pour capturer et stocker des milliers d'images avec chaque image composée de milliers de pixels, et chaque pixel représentant jusqu'à 256 niveaux de gris. Cet outil crée une image ultra haute résolution de la surface de la plaquette, masque ou réticule, et travaille à identifier, classer et quantifier les défauts qui peuvent exister sur la surface. TOPCON WM 2500 utilise également une opération de métrologie embarquée, ce qui signifie qu'aucune machine de mesure externe n'est nécessaire pour détecter et mesurer la taille des défauts. L'opération de métrologie embarquée est capable de trouver et de mesurer des défauts allant d'un micromètre à des dizaines de micromètres de taille, et peut recueillir ces données pour l'analyse statistique. WM 2500 utilise également un atout optique binaire avancé, qui permet d'inspecter différents types de défauts, tels que les défauts de cristal, les ruptures de ligne et les particules claires ou transparentes. Le modèle peut également inspecter les défauts de surface de grande surface, tels que les vides et les particules, et peut capturer des images d'objets à différents angles. Enfin, l'équipement est capable d'utiliser un système avancé d'analyse des défauts, qui aide les utilisateurs à identifier et classer les défauts en fonction d'une variété de caractéristiques telles que la taille, la luminosité, la forme, l'orientation et la netteté des bords. Cette unité peut détecter et identifier avec précision des défauts encore plus petits qu'un seul transistor et peut fournir des informations détaillées sur leur emplacement et leur apparence. Avec son optique avancée, sa métrologie et sa machine d'analyse des défauts, TOPCON WM 2500 est un outil précieux pour les entreprises de semi-conducteurs et est capable de les aider à identifier, classer et quantifier avec précision les défauts qui pourraient menacer l'intégrité de leurs produits.