Occasion TOPCON WM 2500 #9266612 à vendre en France

TOPCON WM 2500 est un équipement d'inspection de masques et de plaquettes conçu pour détecter et mesurer avec précision les défauts des plaquettes et des masques à semi-conducteurs. Ce système est capable d'inspecter une variété de tailles de plaquettes (jusqu'à 8 pouces/200mm) et de mesurer les défauts jusqu'à 0,33 Microns. L'optique dispose d'un objectif télécentrique 4X qui permet un champ de vision large de 90mm sans variation de grossissement. L'unité d'éclairage utilise des sources lumineuses à LED qui fournissent un modèle uniforme avec une faible consommation d'énergie et aucun risque d'endommagement des plaquettes. WM 2500 intègre un capteur d'image CCD couleur et des algorithmes avancés de traitement d'image numérique pour détecter et mesurer les défauts. La machine utilise un mode d'imagerie de champ lumineux avec le mode de détection des défauts (DDM) et le mode d'amélioration continue des défauts (CDEM). DDM utilise l'adaptation des motifs et l'amélioration du contraste pour détecter divers types de défauts, tels que les défauts, les particules, les rayures, les trous d'épingle et les masques manquants ou mal placés. Il peut détecter des défauts jusqu'à 0,33 microns de taille dans la zone décrite. CDEM scanne l'ensemble de la plaquette et est utilisé pour détecter des défauts de renddspot, ou des défauts trop petits pour être visualisés avec l'imagerie de champ lumineux. Le processeur d'image supporte en outre l'inspection de grille de wafer et l'inspection de marque. TOPCON WM 2500 dispose d'un outil Novastar HPI haute vitesse d'inspection des motifs pour analyser une grande variété de formes et de tailles de caractéristiques. Cela comprend les dimensions critiques, l'inclinaison et le placement des structures jusqu'à 0,1 Microns dans la taille. L'actif comprend également des capacités d'auto-focus et d'auto-centrage. Cette optimisation en temps réel permet une inspection et une mesure précises même si les plaquettes sont décalées par rapport à leur position d'origine. En outre, le modèle comprend des capacités complètes de stockage et de déclaration des données. Les images des plaquettes inspectées peuvent être stockées ainsi que les rapports générés dans .csv et d'autres formats. L'équipement est capable de communiquer via différentes interfaces, y compris Ethernet, USB, et les ports série, ce qui permet un accès à distance aux données et la possibilité de s'intégrer à un système externe contrôlé par ordinateur. De plus, WM 2500 est conforme aux normes SEMI. Au total, le TOPCON WM 2500 est un masque et une unité d'inspection des plaquettes fiables, conviviales et conçues pour une inspection et une mesure rapides et précises des défauts. Son optique télécentrique, ses algorithmes avancés de traitement d'images, sa machine d'inspection HPI Novastar et ses capacités étendues de stockage de données et de rapports le rendent idéal pour les applications de fabrication et de test de semi-conducteurs.