Occasion TOPCON WM 3 #9226701 à vendre en France

TOPCON WM 3 est un équipement d'inspection de masques et de plaquettes de TOPCON Corporation utilisé pour l'emballage et la fabrication de semi-conducteurs. Le système combine l'inspection des plaquettes au microscope optique avec une caméra d'inspection haute résolution et un vidéoprojecteur haute précision pour effectuer la détection et l'analyse des défauts des plaquettes. Il est capable de détecter les plus petits défauts visibles sur la surface de la plaquette, qu'ils soient causés par des dommages mécaniques, un mauvais traitement de surface ou une contamination. TOPCON WM-3 est une unité d'inspection à grande vitesse pour l'inspection optique et la classification des formats standard et avancés d'emballage de plaquettes, y compris masque, tampon, bosse, et via trous. Son imagerie quadridimensionnelle est activée par un moniteur LCD, en combinaison avec une caméra sous-échantillonnée à haute résolution basée sur PC. La caméra basée sur PC a une conception d'inclinaison à angle élevé et un commutateur à bascule pour ajuster sa résolution d'image interpolée indépendamment pour chaque zone d'amélioration d'image automatique de sous-échantillonnage (SAII). Pour la détection des défauts, la machine utilise une caméra d'inspection réflective haute résolution et un double masque pour détecter un large éventail de défauts. L'intégration du double masque avec les technologies de traitement d'image propriétaires TOPCON fournit une résolution de défaut supérieure. De plus, les images de défauts peuvent être sauvegardées pour une analyse plus poussée. WM 3 offre également une fonction d'inspection du masque interférométrique (IMI) pour l'inspection des masques transparents, tels que le motif, le dos, le trou de contact et les motifs de diffusion. Le mode IMI peut inspecter n'importe quel motif de masque, même lorsque sa morphologie de surface ou d'autres caractéristiques sont différentes d'autres masques, comme la diffraction ou la variation de couleur. L'outil dispose d'un actif de projection vidéo (VPS) intégré pour analyser les défauts automatiquement avec un modèle d'imagerie. L'équipement peut détecter des défauts de niveau micron et générer des rapports détaillés. Il dispose également d'une fonction d'analyse de données entièrement automatisée qui peut configurer un modèle d'index pour la pénétration de masque, bump, et l'analyse d'espacement. Les fonctionnalités conviviales de WM-3 incluent l'interface utilisateur (UI), qui fournit une interface graphique intuitive pour améliorer la productivité de l'utilisateur ; gestion des données pour stocker et partager les données d'inspection dans un réseau partagé ; et une suite d'analyses complète pour fournir des groupes de défauts groupés et leur position, leurs dimensions et leurs caractéristiques. TOPCON WM 3 est un excellent outil pour l'inspection des plaquettes semi-conductrices, la détection des défauts et la fabrication de masques. Il offre une excellente résolution d'image et des fonctions d'analyse automatique des défauts pour garantir l'uniformité et la fiabilité des processus d'emballage et de fabrication des plaquettes.