Occasion TORAY Inspectra #9137298 à vendre en France

TORAY Inspectra
ID: 9137298
Wafer inspection system.
TORAY Inspectra est un équipement avancé d'inspection automatisée des masques et des plaquettes qui fournit une analyse rapide et complète des défauts de surface. Il s'agit d'un outil efficace pour diverses applications, y compris la fabrication de dispositifs semi-conducteurs, le MEMS et la métrologie des plaquettes. Le système utilise la mise au point rapide et la mise en évidence de l'imagerie pour capturer les images du substrat et identifier les défauts. Il dispose d'une unité d'acquisition automatique d'images, qui permet des processus plus rapides et plus efficaces. La machine peut également mesurer divers paramètres critiques de la plaquette, tels que le profil, l'épaisseur et l'uniformité. Les composants principaux de l'outil sont un contrôleur de focalisation, une source de lumière, un processeur et un capteur d'image. Le contrôleur de focalisation contrôle la position de la source lumineuse et du capteur d'image. Ceci permet une analyse très détaillée de la surface du substrat. La source lumineuse est utilisée pour afficher l'image sur le moniteur, et le processeur est utilisé pour comparer l'image à une taille et une forme prédéterminées de défaut. L'actif est conçu pour identifier les grands et les petits défauts. Le capteur d'image peut capturer des images de différentes dimensions, formes et niveaux d'intensité, permettant une détection plus précise. Le seuil de détection du défaut peut être ajusté pour correspondre à la taille du défaut cible. En outre, le modèle offre une gamme d'options pour la détection et l'analyse des défauts. Il peut détecter des défauts dans la direction verticale et horizontale, ainsi que les combiner pour la détermination précise. Il fournit également deux types d'analyse pour chaque direction-manuel et automatisé. Cela permet une plus grande flexibilité dans la façon dont l'utilisateur veut analyser les données. En conclusion, Inspectra est un outil efficace et avancé pour l'inspection des masques et des plaquettes qui fournit une analyse rapide et complète des défauts de surface. Ses caractéristiques comprennent : une mise au point rapide et un équipement d'imagerie de pointe, un processeur pour analyser l'image, et des seuils réglables pour la taille des défauts. C'est un excellent système pour les fabricants, ce qui leur permet d'identifier et d'analyser rapidement les grands et les petits défauts.
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