Occasion VIKING / DYMATIX J-1 #9117519 à vendre en France

VIKING/DYMATIX J-1 est un équipement d'inspection de masque et de plaquettes pour l'industrie de la fabrication de semi-conducteurs. Il offre un ensemble complet de capacités, y compris l'inspection optique de haute précision, l'examen des défauts, l'analyse des zones critiques, la rotation de la matrice et l'analyse de métrologie. Ce système offre une large gamme de capacités d'inspection pour une variété de types de plaquettes, y compris CMOS en vrac, MEMS, et des dispositifs de capteur d'image. Il a une structure optique qui se compose de deux microscopes, permettant de multiples options d'imagerie. Le premier microscope est un microscope de télévision couleur pour visionner des images entières au niveau de la plaquette ou de la matrice, ainsi que des statuts de défaut par matrice. Le deuxième microscope permet d'identifier les largeurs de CD ou de lignes, ainsi que d'inspecter la surface. Sa configuration unique permet aux utilisateurs de basculer entre les capacités stéréo (2D) et numérique (3D). VIKING J-1 fournit également un alignement automatisé et une mesure de la résistance des plaquettes, ce qui permet d'éviter des opérations manuelles inutiles. En outre, ses capacités avancées de traitement d'image permettent la détection, l'inspection et l'analyse automatiques de zones caractérisées et non structurées. Il a également la capacité de corréler les caractéristiques de la matrice pour le suivi et l'analyse des défauts, ainsi que la capacité de cribler les défauts et les altérations induits par le processus. Pour assurer la plus grande précision, l'unité utilise un réseau de pixels optiques propriétaires pour améliorer les performances d'imagerie et réduire l'occlusion. La machine DYMATIX J-1 peut être mise à niveau en fonction des besoins de l'utilisateur. Il dispose d'algorithmes avancés de reconnaissance de motifs, qui peuvent être configurés pour augmenter le niveau de précision pour n'importe quel travail. Il dispose également d'un ensemble complet d'analyse des défauts, y compris la cartographie paramétrique des couleurs et la reconnaissance des motifs. L'outil peut être équipé d'une option d'optimisation de motifs en ligne, permettant une inspection visuelle de l'alignement et de la focalisation sans avoir besoin d'outils d'alignement optique supplémentaires. En outre, J-1 actif est conçu pour répondre aux normes de qualité de plus en plus strictes de l'industrie. Il offre une large gamme de couverture de test, y compris des photomasques, LCD/LCOS, lignes de scribe, trous traversants, alignements sur 4 côtés, et la détection des défauts. Il a un débit élevé et est capable d'imagerie haute résolution, assurant des temps de cycle plus courts pour une analyse complète wafer/die. En résumé, VIKING/DYMATIX J-1 est un puissant modèle d'inspection de wafer et de masque de haute précision, offrant des capacités automatisées et manuelles pour l'analyse des défauts et la métrologie. Il dispose de fonctionnalités optiques et de traitement d'image complètes, ainsi que d'algorithmes de reconnaissance de motifs et d'options d'optimisation de motifs en ligne. Il est conçu pour fournir une assurance qualité leader dans l'industrie et des résultats fiables.