Occasion VIKING / DYMATIX VIS 100D #19172 à vendre en France

ID: 19172
Taille de la plaquette: 6"
Wafer Inspection Station, 6" capacity with computer control Olympus trinoccular microscope, 50 & 100 x, video camera & digitizer, RS232 Computer is not Windows based.
VIKING/DYMATIX VIS 100D est un équipement d'inspection de haute précision conçu pour l'industrie des semi-conducteurs. Le système fournit une détection efficace et complète des défauts pour une variété de substrats de masque et de plaquettes. Il dispose d'une large gamme de paramètres d'inspection et d'une haute capacité de compensation de la dérive thermique pour assurer un débit élevé. VIKING VIS 100D fournit un pipeline de plaquettes entièrement automatisé avec une technologie avancée d'optique et de traitement d'image. L'unité utilise une conception avancée de balayage de faisceau de type réseau linéaire qui assure un haut débit, une faible dérive positionnelle et une imagerie haute résolution. Cela garantit un processus d'inspection rapide et fiable. De plus, la machine dispose d'une source d'éclairage optimale et d'une optique d'imagerie avancée, avec un contrôle supérieur de la diffraction et de la diffusion tout en maintenant de faibles aberrations. L'outil supporte plusieurs supports de masque et de plaquette, avec des variations de forme et de taille, assurant une grande flexibilité et débit. L'actif offre de meilleures capacités de détection de défauts, avec ses puissants algorithmes de traitement d'image. Ces algorithmes comprennent des comparaisons d'intensité globale et locale, la dilatation, l'appariement des motifs géométriques et la déclaration automatisée complète des résultats des inspections. DYMATIX VIS 100D comprend une interface utilisateur intuitive, avec des paramètres facilement accessibles pour assurer un fonctionnement simple et rapide. Les caractéristiques mises en évidence comprennent un détecteur unique à faible bruit, qui est résistant à la dérive thermique et peut atteindre des mesures de haute sensibilité, sous des angles extrêmes et des angles d'incidence. Le modèle est également capable de fournir une gamme dynamique élevée de 0.1µm à 50µm pour une large gamme de formes, de dimensions et de pas de défauts détectés. Sa structure de cellules pixel permet également une visualisation haute résolution, jusqu'à 1.5nm. En outre, ses capacités avancées de gestion des données d'image, de correction de zone d'image, de suppression d'artefacts et de génération de motifs assurent une détection précise et fiable des défauts. VIS 100D répond à divers besoins d'applications, avec un certain nombre de fonctionnalités et de composants, y compris des systèmes d'optique et d'éclairage avancés, des systèmes de détection et d'imagerie hautement optimisés, des algorithmes avancés de traitement d'image et d'imagerie haute résolution. Il est conçu pour être utilisé dans des applications semi-conductrices complexes, offrant des capacités d'inspection efficaces et fiables pour les substrats de masque et de plaquette.
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