Occasion VISTEC LWM9000 #293593050 à vendre en France
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ID: 293593050
Taille de la plaquette: 6"
Style Vintage: 2005
CD Measurement system, 6"
2005 vintage.
Le masque VISTEC LWM9000 est un système automatisé d'inspection optique conçu pour l'industrie des semi-conducteurs. L'unité est capable d'inspecter divers objets, dont des photomasques, des réticules, des plaquettes et d'autres composants liés aux semi-conducteurs. La machine d'inspection utilise une plate-forme d'imagerie optique sophistiquée et des algorithmes avancés pour détecter tout type de défauts. Le cœur d'outil LWM9000 est sa plate-forme d'inspection optique de haute qualité. La plate-forme utilise une optique avancée, y compris un laser proche infrarouge et un atout d'imagerie numérique haute résolution. Cette configuration permet une image exceptionnellement claire du masque ou de la plaquette. La plate-forme d'imagerie optique comprend également des optiques pour assurer des mesures à faible bruit et réduire le temps nécessaire à la détection des défauts. VISTEC LWM9000 dispose également d'un certain nombre d'algorithmes avancés pour détecter les défauts. Ces algorithmes sont adaptés aux spécificités de la tâche et des objets inspectés, de sorte que le modèle peut rapidement détecter les types de défauts les plus courants, y compris les vias, les fosses, les défauts de taille inférieure et supérieure, et le désalignement. L'interface utilisateur de LWM9000 est conçue pour une utilisation facile. L'interface apparaît comme un écran tactile avec un certain nombre de paramètres différents et d'options à choisir. Cela permet aux utilisateurs de personnaliser l'équipement pour leur application particulière. En plus de ses capacités d'inspection automatisée, VISTEC LWM9000 est également livré avec un logiciel d'analyse statistique avancé. Ce logiciel peut être utilisé pour générer automatiquement des résumés et des rapports sur les défauts détectés et peut être utilisé en combinaison avec les autres caractéristiques du système. Ce logiciel est également capable d'établir le type de défauts constatés, ainsi que leur quantité afin que des mesures correctives puissent être prises plus rapidement. LWM9000 est une unité puissante qui est capable d'inspecter rapidement les photomasques et les plaquettes. Sa plate-forme d'imagerie optique de haute qualité et ses algorithmes avancés sont capables de détecter rapidement et avec précision une variété de défauts. L'interface utilisateur améliorée permet une configuration et une utilisation faciles, tandis que le logiciel d'analyse statistique est capable de fournir des rapports détaillés sur les objets inspectés.
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