Occasion WITHLIGHT OPI-110 #9281914 à vendre en France

WITHLIGHT OPI-110
ID: 9281914
Optical power measurement system Photometer Current: 2nA - 20mA Spectro-radiometer Range: 350 - 1050nm Detector: S7031 - 1006 Back thinned TE cooled Optical fiber Core size: 1000µm Fused silica core Transmission range: 250-1100nm Total length: 2m Pneumatic auto loading system adapter (Socket assembly) for lamp LED Integrating sphere system Integrating sphere & jig for unit LED Auxiliary lamp Power supply LED Lamp aging system.
WITHLIGHT OPI-110 Masque et Wafer Inspection Equipment est une solution complète pour inspecter une gamme de matériaux semi-conducteurs pour détecter les défauts, défauts et autres incohérences. Ce système offre une solution d'imagerie haute résolution avec un large champ de vision, permettant une inspection précise et efficace d'une gamme de matériaux. OPI-110 dispose d'une microscopie d'imagerie unique qui est capable à la fois de champ lumineux et d'imagerie de champ sombre. Cette unité d'interférométrie du chemin optique au microscope binoculaire peut être facilement ajustée pour observer des caractéristiques aussi petites que 0,5 μ m, ce qui permet aux fabricants de détecter efficacement les défauts, la contamination et d'autres contaminants dans le matériau. Son optique de précision fournit à l'utilisateur une image haute résolution qui peut être navigué rapidement et facilement en déplaçant simplement le foyer. WITHLIGHT OPI-110 dispose également d'une machine de manutention automatisée des plaquettes, conçue pour simplifier et accélérer le processus d'inspection. Grâce à sa conception légère, l'outil peut être facilement mis en place et repositionné, ce qui permet un chargement d'échantillons lisse et précis. L'actif est également équipé d'une intégration logicielle/matérielle avancée, qui permet aux utilisateurs de contrôler les paramètres du modèle et de visualiser l'image en haute résolution, presque en temps réel. En plus de l'inspection optique, OPI-110 peut également être utilisé pour l'imagerie de courant induit par faisceau laser (LBIC). Cette technique permet aux utilisateurs de détecter des variations dans le comportement du matériau jusqu'à 6 μ m. La technique LBIC est également capable de détecter des zones non uniformes dans l'échantillon, fournissant aux utilisateurs des informations détaillées en temps réel. WITHLIGHT OPI-110 est une solution idéale pour tout fabricant de semi-conducteurs à la recherche d'un moyen fiable et efficace d'inspection des plaquettes et des masques. En utilisant sa gamme de capacités d'imagerie sophistiquées et de matériel automatisé de manipulation des échantillons, OPI-110 offre aux fabricants la capacité de détecter avec précision et rapidement les défauts, la contamination et d'autres incohérences dans le matériau, améliorant ainsi la qualité de leurs produits.
Il n'y a pas encore de critiques