Occasion WYKO / VEECO RTI #9234521 à vendre en France

WYKO/VEECO RTI Masque et Wafer Inspection Equipment est un mécanisme complet utilisé pour évaluer l'intégrité des plaquettes de silicium, masques et autres substrats semi-conducteurs. Il combine une variété de techniques, telles que la microscopie optique, les tests électriques et l'imagerie non destructive pour évaluer des échantillons tels que des membranes minces, de nouvelles structures et composants, et plus encore. Le microscope optique du système permet l'observation, l'imagerie et l'analyse d'échantillons à un niveau de très haute résolution, aussi petit que 1,0 nanomètre. Il peut lire des images au microscope dans différents formats tels que SEM, CCD, ou TIFF. Le microscope dispose d'un module avancé de traitement d'image qui permet plusieurs fonctionnalités, telles que la couture, la super résolution et l'amélioration du contraste, pour analyser les caractéristiques et les défauts. Les capacités de test électrique fournies par l'unité RTI WYKO déterminent les propriétés électriques des substrats. Il couvre un large éventail de matériaux et de microcircuits intégrés, des résistances de base aux structures hautement complexes. La procédure de test est adaptée pour effectuer des essais sans contact, sans contact (par couplage capacitif) ou sans contact, et peut mesurer des paramètres tels que la résistivité, la capacité et l'impédance. En outre, la machine utilise l'imagerie non destructive pour examiner la topographie des échantillons et détecter des caractéristiques telles que le motif, la taille des grains et l'alignement. L'installation d'imagerie est conçue avec de meilleurs modes de contraste, permettant une plus large gamme d'applications. Des détails précis peuvent être recueillis en utilisant des techniques de rayons X, de faisceaux électroniques et de faisceaux ioniques focalisés. Les logiciels avancés permettent le traitement et l'analyse des données, permettant la détection et la correction des erreurs, et le contrôle des paramètres avec des paramètres personnalisés. Les données obtenues à partir des différentes techniques peuvent être combinées et regroupées en un seul fichier, permettant une analyse plus détaillée des matériaux du substrat. Les données obtenues peuvent être présentées sous forme d'images ou de données, ce qui permet une inspection et une analyse plus poussées. Cet outil facile à utiliser est convivial et peut contribuer à améliorer l'efficacité des tests de recherche et de production, que ce soit dans les laboratoires de recherche ou dans la fabrication.