Occasion YEST YIH-2400 #9098824 à vendre en France

YEST YIH-2400 Mask and Wafer Inspection Equipment est un système d'imagerie de pointe conçu pour la détection et l'identification des défauts des substrats et masques utilisés dans la fabrication de circuits semi-conducteurs. L'unité d'imagerie industrielle est optimisée pour les applications semi-conductrices, avec un capteur d'image haute vitesse de 12 mégapixels et des réseaux de micro-lentilles propriétaires pour produire des images haute résolution. La machine est également équipée d'un ordinateur de bord qui supporte une variété d'algorithmes de vision et d'inspection d'image de la machine, ainsi que le codage couleur avancé et d'autres fonctionnalités d'analyse d'image. L'outil permet une grande variété de fonctions de détection grâce à ses algorithmes intégrés. On peut citer par exemple la détection de défauts, la détection de géométrie, la surveillance des processus, la recherche de caractéristiques et la filature. Les utilisateurs peuvent également définir des étapes de détection personnalisées et appliquer des algorithmes à des défauts individuels. YIH-2400 Masque et Wafer Inspection Asset dispose d'un modèle d'éclairage laser fiable et à haut rendement, qui permet d'aligner avec précision les plaquettes et les masques sur l'équipement d'imagerie. En outre, le système est conçu avec une unité de chargement multi-axes pour faciliter le chargement et le déchargement des plaquettes et des masques, ainsi qu'une machine sophistiquée de manutention des plaquettes pour plus de précision. L'outil fournit également une variété d'options de sortie de données, comme des cartes d'erreurs, des histogrammes et des rapports sur les critères de réussite/échec, pour surveiller la santé des wafer et des produits de masque, ainsi que pour inspecter les pièces pour tout problème de processus. Toutes ces capacités permettent aux fabricants de l'industrie des semi-conducteurs d'éliminer correctement et efficacement les plaquettes et masques défectueux, réduisant les interruptions de production et augmentant les rendements. Finalement, YEST YIH-2400 Mask and Wafer Inspection Asset est un modèle d'imagerie avancé conçu pour détecter et identifier les défauts des substrats et masques utilisés dans la fabrication de circuits semi-conducteurs. Cet équipement a été conçu avec les outils d'algorithme d'inspection d'images les plus sophistiqués et un système d'éclairage laser fiable, permettant une production sans erreur et une assurance qualité dans l'industrie des semi-conducteurs.