Occasion ZYGO 7702 #9196229 à vendre en France

ZYGO 7702 Wafer Inspection Equipment est un appareil qui est utilisé pour inspecter l'intégrité des micro-appareils tels que les circuits intégrés, les semi-conducteurs et d'autres composants électroniques. Ce système est un outil très avancé et automatisé spécialement conçu pour l'inspection des plaquettes et des micro-appareils. 7702 combine un puissant microscope optique avec des composants automatisés d'imagerie et d'acquisition de données qui sont conçus pour l'inspection des plaquettes et des masques. Cette unité utilise une technologie avancée d'autofocus laser, qui est une technologie de mesure optique très précise capable de mesurer avec précision la surface du plot, du plomb ou du point de contact d'un appareil. ZYGO 7702 est capable de mesurer et d'inspecter la planéité, l'épaisseur, l'intégrité des motifs, l'uniformité des dépôts, ainsi que les signes de contamination, de particules, de piqûres ou tout autre défaut. 7702 intègre également un pas de haute précision, qui assure un mouvement de balayage lisse tout en acquérant des images topographiques de micro-dispositifs et de plaquettes. Le stepper est capable de fournir des images très détaillées qui peuvent être utilisées pour mesurer des caractéristiques de surface incluant profil, rugosité, défauts, adhérence, placement, ou toute autre mesure sans contact d'une surface. ZYGO 7702 comprend également un composant unique d'analyse d'image, qui simplifie l'inspection manuelle traditionnelle des plaquettes en automatisant les processus associés à la capture, l'analyse et le tracé des données d'image. La solution d'analyse d'image 7702 permet de détecter des défauts non visibles dans les images standard au microscope, comme la lithographie ou les défauts de précision. La machine peut détecter ces défauts en utilisant des algorithmes intelligents et une bibliothèque d'images puissante, tout en fournissant des résultats fiables et reproductibles. En outre, ZYGO 7702 dispose d'une suite complète de matériel de numérisation et d'acquisition en temps réel capable d'enregistrer jusqu'à 8 000 images par minute. L'outil est capable de capturer, analyser et traiter des données à des vitesses allant jusqu'à 32 000 images par seconde. Dans l'ensemble, 7702 Wafer & Mask Inspection Asset est un outil puissant, fiable et très précis pour inspecter, mesurer et analyser les micro-structures et les wafers. Sa combinaison de microscopie optique, d'analyse d'images et de capacités d'acquisition automatisée de données en font un modèle exceptionnellement précieux pour tout laboratoire d'inspection.