Occasion ZYGO Mark II #76460 à vendre en France
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ID: 76460
Interferometer
Zoom: 1x - 6x
Remote control for zoom and focus
Aperture: 4" (102mm)
Line voltage: 120 V or 230 V
SONY XC-ST51CE
Vertical: 50 Hz
Horizontal: 15625 Hz
Not included:
IntelliWave software from engineering synthesis design
4" Transmission flat
4" Return flat
Video monitor
Computer analysis.
ZYGO Mark II est un équipement d'inspection des masques et des plaquettes qui est utilisé pour l'inspection des plaquettes et des masques à semi-conducteurs. C'est une combinaison de technologie optique, physique et électrique. Le système comprend un microscope à balayage, un interféromètre laser optique et un module d'inspection visuelle. Le microscope à balayage est utilisé pour détecter les défauts de surface de l'échantillon. L'interféromètre laser optique est utilisé pour mesurer les paramètres critiques de l'échantillon tels que les dimensions, la planéité et la courbure de surface. Le module d'inspection visuelle est utilisé pour inspecter l'alignement, la surface et la microstructure de l'échantillon. Les composants optiques du microscope sont conçus pour fournir une image haute résolution. Les interféromètres laser sont utilisés pour mesurer les positions verticales et latérales, ainsi que la variation de hauteur à travers la surface de l'échantillon. L'unité dispose également d'un codeur numérique, qui est utilisé pour mesurer la distance, la vitesse, la température et la position. La machine Mark II est capable de détecter un large éventail de défauts de surface tels que des contaminants particulaires, des trous de pincement et des vides, ainsi que des défauts plus subtils tels que la rugosité de surface et la distribution de la taille des défauts. Grâce à son logiciel d'imagerie numérique, l'outil peut rapidement générer un grand nombre d'images à des fins d'analyse et de comparaison. L'actif peut également détecter des anomalies dans le comportement électrique de l'échantillon, telles qu'une résistance accrue ou la présence de shorts. Cela permet de détecter des défauts lors du test électrique de l'échantillon. Le modèle ZYGO Mark II est également capable de mesurer un large éventail de contraintes mécaniques, telles que la contrainte de surface, les gradients de contrainte, la ténacité des fractures et la plasticité. Il peut mesurer les concentrations de stress, ainsi que l'énergie de souche de l'échantillon. L'équipement est conçu pour être entièrement automatisé et fonctionner dans un processus de production. L'interface de contrôle permet à l'utilisateur de programmer, exécuter et surveiller le fonctionnement du système. Il peut être utilisé pour configurer l'unité pour une application spécifique, ou pour exécuter plusieurs opérations en série. Mark II est un masque de pointe et une machine d'inspection de plaquettes, qui combine la technologie optique, physique et électrique pour fournir une solution complète pour la fabrication de semi-conducteurs. Ses caractéristiques polyvalentes permettent une inspection rapide et précise d'une large gamme de plaquettes et masques semi-conducteurs, ce qui en fait un outil idéal pour la fiabilité et l'assurance qualité de structures semi-conductrices complexes.
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