Occasion ZYGO Mark IV XPS #9262840 à vendre en France

ZYGO Mark IV XPS est un équipement d'imagerie et d'inspection optique haute vitesse et haute résolution, conçu pour permettre aux fabricants de semi-conducteurs d'évaluer rapidement et avec précision les défauts des masques et des plaquettes, avant et après leur fabrication. Utilisant sa technologie d'inspection XDISC exclusive, ce système utilise un puissant microscope à champ de vision variable pour fournir à l'utilisateur des capacités de grossissement élevées. En outre, un processeur d'image optique sophistiqué est utilisé, permettant une plus grande vitesse de collecte de l'information et une plus grande précision. Les principales caractéristiques de l'appareil comprennent une caméra d'analyse d'images de grand format et de grande profondeur de champ, capable d'acquérir des images à une résolution de couleur jusqu'à 24 bits avec une résolution maximale de 4 096 x 4 096 pixels. Cela permet une qualité d'image supérieure, tout en réduisant la dégradation de l'image due à la diffraction. En outre, un algorithme de traitement d'image spécialement conçu est utilisé pour améliorer encore le détail et la précision de l'image lors de la reconnaissance de la défection. Mark IV XPS dispose également d'une large gamme d'options d'éclairage d'inspection, permettant aux utilisateurs d'identifier rapidement et avec précision les particules et autres défauts dans leurs plaquettes semi-conductrices. Ceux-ci comprennent à la fois le champ lumineux et l'illumination de champ sombre, ainsi que les éclairages polarisés de pointe et de microscope. De plus, un mode d'imagerie double est également disponible, permettant une imagerie simultanée de l'avant et de l'arrière de la plaquette. La machine est encore améliorée par une gamme de caractéristiques ergonomiques, y compris un porte-échantillon motorisé à 360 degrés et un étage d'échantillonnage à faible vibration. Cela garantit des résultats précis et reproductibles sur chaque plaquette inspectée. En outre, ZYGO Mark IV XPS comprend une gamme de capacités automatisées de détection et d'analyse des défauts, permettant aux utilisateurs d'évaluer rapidement et facilement leurs plaquettes et de déterminer si des défauts sont présents ou non. Enfin, grâce à son interface facile à utiliser, Mark IV XPS permet aux utilisateurs de traiter facilement leurs images et d'analyser leurs résultats. Cet outil comprend également une gamme de fonctions de post-traitement, permettant aux utilisateurs d'ajuster leurs paramètres et d'affiner leurs résultats d'image. En utilisant ces fonctions, les utilisateurs peuvent identifier rapidement et avec précision les défauts de particules ou autres dans leurs plaquettes semi-conductrices. Dans l'ensemble, ZYGO Mark IV XPS est un masque robuste et fiable et un outil d'inspection des plaquettes, conçu pour analyser rapidement et avec précision les défauts. Ses fonctionnalités avancées de traitement d'image, sa conception ergonomique et ses capacités de détection automatisée en font un outil idéal pour les utilisateurs qui cherchent à inspecter rapidement et avec précision leurs plaquettes.