Occasion ZYGO NewView 200 #9351638 à vendre en France

ID: 9351638
Style Vintage: 1998
System No PC 1998 vintage.
ZYGO NewView 200 est un puissant équipement d'inspection de masque et de plaquettes conçu pour analyser avec précision de grandes surfaces de plaquettes semi-conductrices, ainsi que des substrats plats pouvant atteindre 200 mm de diamètre. Le système offre une large gamme de capacités d'inspection et d'analyse dans un design polyvalent et compact. NewView 200 dispose d'une imagerie haute résolution, d'un contraste optimal et d'une excellente profondeur de champ pour inspecter avec précision les grandes surfaces et caractéristiques du masque ou de la plaquette. L'unité est équipée d'un logiciel qui permet de détecter et d'isoler automatiquement les défauts, de scanner de grandes zones de plaquettes sans avoir besoin de paramètres de site et d'atteindre des vitesses d'inspection élevées. 200 peut également effectuer des mesures précises avec un bruit minimal. La machine dispose d'un design avancé, ce qui lui permet de scanner et d'inspecter avec précision de plus grandes zones de plaquettes et de substrat que les solutions classiques. Les capacités d'imagerie de haute qualité permettent d'identifier et d'isoler avec précision les grandes tailles de fonctionnalités. Ceci permet de supporter l'analyse de multiples couches de découpage en trait fin, en s'assurant que les défauts pouvant survenir au cours du processus de fabrication peuvent être localisés rapidement et avec précision. ZYGO NewView 200 comprend également des algorithmes puissants et des logiciels d'inspection des défauts. Ceux-ci lui permettent de détecter, classer et revoir les types de défauts tels que les rayures, les résidus, les particules et les vides. Le logiciel peut également détecter du matériel étranger et des taches hors spec pour une meilleure résolution. Dans l'ensemble, ZYGO 200 est un excellent choix pour inspecter efficacement les grandes surfaces et les caractéristiques du masque ou de la plaquette. Il offre d'excellentes capacités d'imagerie et de détection de défauts dans une conception polyvalente et compacte, ce qui le rend idéal pour la fabrication d'applications de contrôle de processus.
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