Occasion ZYGO NewView 5000-5032-DS #9269321 à vendre en France

ZYGO NewView 5000-5032-DS masque et wafer inspection equipment est un outil de métrologie optique de pointe conçu pour l'inspection non destructive de haute précision des photomasques et des wafers semi-conducteurs. Utilisant l'optique avancée, les lasers, et l'électronique, le système offre une gamme de fonctionnalités et de capacités avancées pour aider à découvrir les défauts qui peuvent autrement passer inaperçus. L'unité se compose d'une caméra CCD RVB à refroidissement cryogénique de 2 mégapixels avec angle de vision de 45 degrés, prise d'image statique et dynamique, autofocus et une unité d'éclairage rétroéclairé. Cela permet une taille maximale de champ de vision jusqu'à 25mm x 25mm. Il est associé à une machine à mouvement X-Y rapide et très efficace avec un lecteur Z permettant des mesures graphiques au niveau du nanomètre. Un outil de stabilisation de l'image (ISSMPC) est également incorporé pour assurer des résultats exacts dans des conditions de mesure où des facteurs stabilisés à l'extérieur peuvent provoquer des changements constants de balayage en raison de vibrations ou d'autres facteurs environnementaux. L'actif est capable de travailler soit avec des signaux couleur RVB haute définition, soit avec des signaux mono normaux. Il fournit également un support pour les filtres optiques analogiques tant numériques que traditionnels. De plus, des corrections précises de données numériques peuvent être appliquées directement à l'image scannée pour améliorer les mesures. ZYGO NEWVIEW 5000 5032-DS utilise son optique avancée pour détecter même les plus petites caractéristiques telles que les rayures, les taches et les particules de poussière et peut détecter encore plus petites que les caractéristiques visibles sur un semi-conducteur. Il est conçu pour faciliter l'inspection des plaquettes et masques de haute densité de pixels jusqu'à 90nm en utilisant l'imagerie stéréo, l'interférométrie déphasante, la projection de franges et la comparaison de l'intensité lumineuse. Il peut également détecter des défauts mura et minces. Pour garantir l'exactitude et la cohérence des résultats, le modèle utilise une fonctionnalité unique appelée « Standard Silicone Reference Chip » qui permet l'inspection de plusieurs types et processus de puces différents. En outre, le logiciel d'analyse approfondie ZYGO, GOTO (Geometric Testing Equipment), aide à identifier et à analyser les défauts plus profondément que les systèmes de métrologie traditionnels. Il aide également à identifier les motifs pour les plaquettes et masques défectueux avant qu'ils ne le fassent en production. NewView 5000-5032-DS est un système fiable et largement utilisé pour fournir des résultats précis pour toute inspection de masque ou de plaquette. Cet outil de métrologie de pointe permet aux ingénieurs et aux scientifiques de découvrir les plus petits défauts, contribuant ainsi à réduire les coûts de production des plaquettes et des masques.