Occasion ZYGO NewView 5000 #9008672 à vendre en France

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ID: 9008672
Interference Microscope Dell PC installed by OEM Win 7.0 and MetroPro 9.0.10 Includes: (6) indexed positions of image zoom Includes (3) objectives Manual X/Y and tip/tilt stage with motorized Z-axis with turret Includes vibration isolation table with workstation desk Profile heights ranging rom >1 nm up to 5000 um at speeds up to 10 um / s with 0.1 nm height resolution, independent of magnifications and feature height Variable image zoom 5-position manual or motorized turrets capability Profile areas up to 50 x 50 mm and larger Image stitching capabilities Closed-loop prezo-based scanner Highly-stable metrology Ultra-rigid support structure Granite base foundation Reduced footprint dynamically stabilized vibration isolation table Fully integrated ergonomic workstation Gage capability NIST-traceable standards Interfaced to Pentium based PC Password protection on applications Various standard and optional automation modules Programmable stages Standard and custom sample fixturing Integrated autofocus.
ZYGO NewView 5000 est un masque puissant et un équipement d'inspection de plaquettes pour une gamme de tâches d'inspection. Il permet une analyse frontale pour la fabrication de réticules et de masques, et combine diverses technologies d'imagerie dont l'optique, le SEM (Scanning Electron Microscope) et la spectroscopie Raman, pour faciliter l'inspection multicouche. Le système utilise une technologie d'imagerie optique innovante qui offre une résolution et un contraste supérieurs pour les échantillons opaques et les structures 3D. Cela permet de détecter des micro-particules, des défauts et des distorsions, et permet une imagerie de haute précision des matériaux jusqu'à l'échelle du nanomètre. ZYGO 5000 offre une capacité d'inspection améliorée grâce à son microscope électronique à balayage (SEM) de pointe. Cela inclut une résolution d'imagerie améliorée pouvant atteindre 200 nanomètres en temps réel et une résolution d'imagerie supérieure de 5 nanomètres. Cela le rend idéal pour l'inspection des structures et des modèles à haute résolution, ainsi que pour la recherche des défauts et l'évaluation des composants. L'unité peut également effectuer la spectroscopie Raman (RS) pour analyser la composition du matériau. Cette technique non destructive est utilisée pour diverses applications telles que l'identification des matériaux et contaminants étrangers, la détermination de l'uniformité des processus de dépôt et la vérification des changements de couche. NewView 5000 offre également une suite logicielle complète qui permet la reconnaissance automatisée des motifs, le traitement complexe des images et l'analyse des particules. Ce logiciel intuitif permet de détecter et de mesurer les défauts physiques sur les plaquettes, les réticules et les masques, ainsi que les variations de motifs pour les matériaux opaques et les structures 3D. La machine a une conception mécanique supérieure qui permet un fonctionnement simple, le chargement et le déchargement des plaquettes, et le changement d'échantillon. Il offre également une flexibilité dans la manipulation de substrats tels que des plaquettes épaisses, des réticules, de formes et de tailles variables. 5000 offre les capacités d'inspection des masques et plaquettes les plus performantes disponibles sur le marché aujourd'hui. C'est un outil essentiel pour garantir les résultats de la plus haute qualité dans la fabrication de plaquettes pour garantir des performances précises de l'appareil.
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