Occasion ZYGO NewView 5032 #9375626 à vendre en France

ZYGO NewView 5032 est un équipement d'inspection de masque et de plaquettes conçu pour améliorer le contrôle des processus semi-conducteurs et la gestion des rendements. Le système est configuré avec un étage 5 axes et un microscope optique haute performance, offrant une gamme de capacités de visualisation et d'imagerie. L'unité dispose d'une variété d'options d'interférométrie et d'imagerie microscopique, permettant aux utilisateurs de mesurer une variété de défauts, y compris les non-uniformités de masse et de profil, la rugosité de surface et les non-uniformités dimensionnelles et optiques. Il est capable de mesurer les défauts jusqu'à quelques nanomètres de taille, donnant aux utilisateurs une vue complète de l'échantillon sous de multiples angles. La machine intègre également des fonctions avancées de traitement d'image, d'édition de masque, de reconnaissance de motifs et d'analyse statistique, donnant aux utilisateurs un ensemble complet d'outils pour l'analyse des défauts. L'étage d'échantillonnage de NewView 5032 est conçu pour accepter différents substrats, y compris des plaquettes et des films de silicium, ainsi que des substrats hybrides. L'étage est optimisé pour une résolution de 1 micron selon les axes X ou Y de l'échantillon, avec une vitesse maximale de balayage de 2 nanomètres par seconde. La commande de mouvement à 5 axes permet un positionnement précis de l'échantillon avec une perturbation minimale, donnant aux utilisateurs des mesures de précision et de répétabilité élevées. Le microscope optique de l'outil est équipé d'une variété de lentilles d'imagerie et de focalisation, permettant à l'opérateur de capturer les détails les plus fins de l'échantillon. Il offre une large gamme de grossissements, de 2x à 50x, ainsi que l'imagerie spectrale et l'amélioration du contraste. Le microscope bénéficie également d'une stabilisation optique de l'image, assurant une stabilisation supérieure de l'image et un retrait minimal de la carte. ZYGO NewView 5032 s'intègre à une gamme de systèmes tiers pour améliorer la fonctionnalité, offrant aux utilisateurs une gamme complète d'options pour personnaliser l'actif en fonction de leurs besoins spécifiques. Il peut être connecté à des plates-formes de test automatisées, telles que des équipements de test et de mesure, des contrôleurs de débit et des systèmes d'analyse pour une intégration complète dans les processus de production existants. En outre, le modèle peut être connecté à divers systèmes informatiques, tels que des PC et des smartphones, pour l'accès à distance aux données. En fin de compte, NewView 5032 offre une solution polyvalente pour l'inspection des masques et des plaquettes, combinant des outils puissants d'imagerie, d'interférométrie et d'analyse avec la précision et la répétabilité d'une conception en cinq axes. Son large éventail d'options d'imagerie, ses fonctionnalités personnalisables et sa compatibilité avec plusieurs systèmes tiers en font un excellent choix pour le contrôle des processus et la gestion des rendements.