Occasion ZYGO NewView 7300 #9248752 à vendre en France

ZYGO NewView 7300 est un équipement d'inspection de masques et de plaquettes qui utilise une technologie d'imagerie optique avancée et des algorithmes de traitement d'image pour détecter et caractériser les défauts sur les masques et les plaquettes. Il est conçu pour aider à améliorer la précision et la précision des processus de production de semi-conducteurs et peut être utilisé pour les inspections de défauts 2D et 3D. Le système fonctionne en utilisant un faisceau laser réglable pour scanner une surface d'échantillon d'un masque ou d'une plaquette. Le faisceau laser est réfléchi hors de la surface de l'échantillon et détecté par des détecteurs à haute résolution. Les informations détectées sont ensuite envoyées à un processeur d'images haut de gamme pour un traitement ultérieur. Le processeur d'images extrait ensuite les détections de défauts, les caractérise et produit un rapport détaillé des constatations. ZYGO NEW VIEW 7300 est livré avec des capacités avancées de caractérisation des défauts, y compris la capacité de capturer, analyser et comparer des données de plusieurs champs de vue de la surface de l'échantillon et de détecter même de petits défauts. Il offre également une imagerie fiable pour les inspections des lettres et des logiques au niveau du nanomètre. NewView 7300 est bien adapté pour des applications telles que l'inspection des plaquettes et des masques, la qualification des plaquettes et des masques et la détection des défauts dans l'imagerie latérale. Il offre une gamme complète de fonctionnalités, y compris une unité de focalisation dynamique pour assurer une plus grande précision, la technologie d'éclairage laser à double bande pour un contraste amélioré, et une machine à balayage laser à haute vitesse pour le traitement plus rapide des images à haute résolution. Il est équipé d'un puissant moteur de traitement d'image et de capacités d'analyse avancées pour permettre une inspection et une caractérisation précises des défauts et de leur localisation précise. L'outil peut également être intégré aux instruments SEM/TEM pour la vérification automatisée des échantillons et la transmission des données de défaut. NEW VIEW 7300 est livré avec une interface utilisateur graphique conviviale et intuitive pour une configuration et un fonctionnement faciles. L'actif est conçu pour répondre aux normes les plus élevées de précision et de fiabilité ; contribue à des rendements optimaux des procédés de fabrication ; et peut être utilisé dans un large éventail d'options de production de semi-conducteurs.