Occasion ZYGO NewView 7300 #9254948 à vendre en France
Il semble que cet article a déjà été vendu. Consultez les produits similaires ci-dessous ou contactez-nous et notre équipe expérimentée le trouvera pour vous.
Appuyez sur pour zoomer
Vendu
ID: 9254948
Interference microscope
Scanning white-light interferometer
DELL Computer with XP Pro and MetroPro
Motorized 5-axis staging
Motorized turret
FOV Zoom tubes: 0.5x, 1.0x
Objective 5x included.
ZYGO NewView 7300 est un système avancé d'inspection des masques et des plaquettes conçu pour réduire le temps et les efforts nécessaires pour l'évaluation des défauts et la métrologie. Il exploite l'optique télécentrique haute résolution pour capturer plusieurs images d'une plaquette à motifs et générer des retours en temps réel, permettant aux opérateurs d'obtenir des résultats immédiats. ZYGO NEW VIEW 7300 offre un alignement et une inspection automatisés haute précision et haute efficacité pour l'inspection de surface de précision, l'alignement de recouvrement et la détection générale des défauts. Grâce à sa technologie Dual Source (DST), il prend en charge l'éclairage des champs lumineux et sombres pour balayer une grande variété de substrats et de géométries d'inspection. L'intégration de la métrologie sans contact et de l'imagerie à haute résolution fournit des mesures précises sans interférer avec la surface de l'échantillon. D'autres caractéristiques de NewView 7300 comprennent un microscope intégré pour acquérir des images de la surface de l'échantillon afin de faciliter l'analyse des défauts, le prétraitement en ligne des images et le post-traitement des données pour la reconstruction 3D et la cartographie des contours. Il dispose également d'une interface graphique conviviale qui fournit aux opérateurs une rétroaction en temps réel et peut être adaptée à des applications spécifiques. Les commentaires recueillis dans NEW VIEW 7300 peuvent être utilisés pour faciliter l'amélioration des processus et cerner les enjeux liés aux processus en temps opportun. Son logiciel intégré peut être utilisé pour gérer les données d'inspection et de qualité, et établir des corrélations entre ces paramètres et le type de défaut, le nombre, l'emplacement et la taille. Avec ses multiples capacités d'imagerie, d'analyse interactive et avancée, ZYGO NewView 7300 fournit une solution complète pour la détection et la caractérisation des défauts. ZYGO NEW VIEW 7300 est conçu pour gérer la plupart des tâches d'inspection des panneaux plats, des masques et des plaquettes de manière efficace et précise avec une intervention minimale de l'opérateur. Ses capacités avancées en font un choix idéal pour les laboratoires de contrôle de la qualité et les installations de R-D qui doivent atteindre les normes les plus élevées en matière d'inspection des produits et de métrologie.
Il n'y a pas encore de critiques