Occasion ZYGO ZMI 7702 #9363714 à vendre en France

ZYGO ZMI 7702 est un équipement d'inspection Masque et Wafer conçu pour inspecter avec précision les dispositifs semi-conducteurs pour détecter les défauts. Ce système est basé sur un analyseur automatisé et un microscope d'accompagnement pour fournir une qualité d'image supérieure et des capacités d'inspection. L'unité est conçue pour atteindre l'excellence dans la gestion des défauts et le routage des processus de fabrication des plaquettes dans les technologies semi-conductrices. ZMI 7702 utilise un analyseur automatisé personnalisé pour focaliser précisément et déplacer l'étage de microscope, assurant une haute résolution, images reproductibles. La machine est capable de mesurer les caractéristiques des sous-microns avec précision et efficacité, y compris les circuits haute densité, les réseaux de mémoire et le câblage multicouches. Il permet également de mesurer les tailles de défauts, de rechercher les caractéristiques critiques du courant continu et de détecter les défauts du transistor. L'outil est équipé d'un module d'analyse d'images numériques (DIAM) qui exploite les capacités de reconnaissance d'images et de motifs pour la détection avancée des défauts. ZYGO ZMI 7702 utilise un microscope de pointe qui lui permet de générer des grossissements de 5X à 2000X. Ce microscope haute résolution offre à la fois un champ lumineux et un éclairage de champ sombre pour permettre une meilleure visualisation des motifs complexes de semi-conducteurs, y compris les défauts. Le microscope utilise un appareil photo numérique couleur CCD complet pour des images et des vidéos de haute qualité. De plus, ZMI 7702 utilise un atout d'alignement automatisé avec une fonction d'étalonnage des échantillons pour s'assurer que l'échantillon est exactement aligné avant le positionnement. Ce modèle offre plus de précision et de répétabilité dans le processus d'inspection. ZYGO ZMI 7702 fournit également des interfaces utilisateur faciles à utiliser pour faciliter des inspections efficaces et précises. Son logiciel nVision convivial est conçu pour rationaliser les processus d'inspection et fournir des données en temps réel. Le logiciel de recherche intégré est également inclus pour une localisation rapide et facile des défauts. En résumé, ZMI 7702 est un équipement complet et performant d'inspection Masque et Wafer, avec des capacités avancées d'imagerie et de détection de défauts qui peuvent être utilisés dans une variété d'applications. L'analyseur automatisé, le microscope et le module d'analyse d'image numérique (DIAM) offrent une qualité et une précision d'image supérieures, tandis que les interfaces et les logiciels conviviaux optimisent le processus d'inspection.